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目錄:青島森納瑞精密儀器有限公司>>顯微鏡>>電子掃描顯微鏡>> SEM3200通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡

通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡
  • 通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡
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參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 國(guó)儀量子
  • 型號(hào) SEM3200
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 產(chǎn)品資料 查看pdf文檔
  • 所在地 青島市
屬性

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更新時(shí)間:2024-09-10 21:49:28瀏覽次數(shù):1096評(píng)價(jià)

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同類優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品

更多產(chǎn)品
產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 儀器種類 熱場(chǎng)發(fā)射
應(yīng)用領(lǐng)域 綜合
SEM3200是一款高性能,、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡,。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式,、在不同的視場(chǎng)范圍下均可得到高分辨率圖像,。
大景深,成像富有立體感,。豐富的擴(kuò)展性,,助您在顯微成像的世界中盡情探索,。

產(chǎn)品特點(diǎn)(*為選配件)

低電壓

碳材料樣品,,低電壓下,,穿透深度較小,可以獲取樣品表面真實(shí)形貌,,細(xì)節(jié)更豐富,。

低電壓-碳高電壓-碳

毛發(fā)樣品,,在低電壓下,電子束輻照損傷減小,,同時(shí)消除了荷電效應(yīng),。

低電壓-毛發(fā)高電壓-毛發(fā)

低真空

過濾纖維管材料,,導(dǎo)電性差,在高真空下荷電明顯,,在低真空下,,無需鍍膜即可實(shí)現(xiàn)對(duì)不導(dǎo)電樣品的直接觀察。

低真空高真空

大視場(chǎng)

生物樣品,,采用大視場(chǎng)觀察,,能夠輕松獲得瓢蟲整體形貌及頭部結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié),展現(xiàn)跨尺度分析,。

低電壓-毛發(fā)高電壓-毛發(fā)

導(dǎo)航&防碰撞

光學(xué)導(dǎo)航

想看哪里點(diǎn)哪里,,導(dǎo)航更輕松
標(biāo)配倉(cāng)內(nèi)攝像頭,可拍攝高清樣品臺(tái)照片,,快速定位樣品,。

光學(xué)導(dǎo)航
手勢(shì)快捷導(dǎo)航

可通過雙擊移動(dòng)、鼠標(biāo)中鍵拖動(dòng),、框選放大,,進(jìn)行快捷導(dǎo)航
如框選放大:在低倍導(dǎo)航下,獲得樣品的大視野情況,,可快速框選您感興趣的樣品區(qū)域,,提高工作效率,。

手勢(shì)快捷導(dǎo)航手勢(shì)快捷導(dǎo)航
防碰撞技術(shù)

采取多維度的防碰撞方案:
1. 手動(dòng)輸入樣品高度,,精準(zhǔn)控制樣品與物鏡下端距離,,防止發(fā)生碰撞;
2. 基于圖像識(shí)別和動(dòng)態(tài)捕捉技術(shù),,運(yùn)動(dòng)過程中對(duì)倉(cāng)內(nèi)的畫面進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè),;
3. 硬件防碰撞,,可在碰撞一瞬間停止電機(jī),,減少碰撞損傷。(*SEM3200A需選配此功能)

防碰撞技術(shù)

特色功能

智能輔助消像散

直觀反映整個(gè)視野的像散程度,,通過鼠標(biāo)點(diǎn)擊清晰處,,可快速調(diào)節(jié)像散至最佳。

智能輔助消像散操作圖智能輔助消像散結(jié)果圖
自動(dòng)聚焦

一鍵聚焦,,快速成像,。

自動(dòng)聚焦操作圖自動(dòng)聚焦結(jié)果圖
自動(dòng)消像散

一鍵消像散,提高工作效率,。

自動(dòng)消像散操作圖自動(dòng)消像散結(jié)果圖
自動(dòng)亮度對(duì)比度

一鍵自動(dòng)亮度對(duì)比度,,調(diào)出灰度合適圖像。

自動(dòng)亮度對(duì)比操作圖自動(dòng)亮度對(duì)比結(jié)果圖
多種信息同時(shí)成像

SEM3200軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像??赏瑫r(shí)觀察到樣品的形貌信息和
成分信息,。

多種信息同時(shí)成像BSE多種信息同時(shí)成像SE
多種信息同時(shí)成像BSE+SE
快速圖像旋轉(zhuǎn)

拖動(dòng)一條線,圖像立刻“擺正角度",。

快速圖像旋轉(zhuǎn)操作圖快速圖像旋轉(zhuǎn)結(jié)果圖

豐富拓展性

掃描電子顯微鏡不僅局限于表面形貌的觀察,,更可以進(jìn)行樣品表面的微區(qū)成分分析。
SEM3200接口豐富,,除支持常規(guī)的二次電子探測(cè)器(ETD),、背散射電子探測(cè)器(BSED)、X射線能譜儀(EDS)外,,也預(yù)留了諸多接口,,如電子背散射衍射(EBSD)、陰極射線(CL)等探測(cè)器都可以在SEM3200上進(jìn)行集成,。

背散射電子探測(cè)器
二次電子成像和背散射電子成像對(duì)比

背散射電子成像模式下,,荷電效應(yīng)明顯減弱,并且可以獲得樣品表面更多的成分信息,。

鍍層樣品:

鍍層樣品SE鍍層樣品BSE

鎢鋼合金樣品:

鎢鋼合金樣品SE鎢鋼合金樣品BSE
四分割背散射電子探測(cè)器——多通道成像

探測(cè)器設(shè)計(jì)精巧,,靈敏度高,采用4分割設(shè)計(jì),,無需傾斜樣品,,可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。

四個(gè)單通道的陰影像

成分像

能譜

LED小燈珠能譜面分析結(jié)果,。

電子背散射衍射

鎢燈絲電鏡束流大,,滿足高分辨EBSD的測(cè)試需求,能夠?qū)饘?、陶瓷,、礦物等多晶材料進(jìn)行晶體取向標(biāo)定以及晶粒度大小等分析。
該圖為Ni金屬標(biāo)樣的EBSD反極圖,,能夠識(shí)別晶粒大小和取向,,判斷晶界和孿晶,對(duì)材料組織結(jié)構(gòu)進(jìn)行精確判斷,。


應(yīng)用案例

普通芯片-1

普通芯片-1

普通芯片-2

普通芯片-2

負(fù)極-碳

負(fù)極-碳

負(fù)極-碳包硅

負(fù)極-碳包硅

正極-鈷酸鋰

正極-鈷酸鋰

正極-錳酸鋰

正極-錳酸鋰

太陽(yáng)能電池-1

太陽(yáng)能電池-1

太陽(yáng)能電池-2

太陽(yáng)能電池-2

高分子泡沫

高分子泡沫

催化劑-MOF材料

催化劑-MOF材料

2A12鋁合金析出相

2A12鋁合金析出相

Mg-Zn合金化合物層

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不銹鋼-黃銅焊接件

不銹鋼-黃銅焊接件

鈦合金基體組織

鈦合金基體組織

合金斷口脆性+韌性

合金斷口脆性+韌性

韌性斷口

韌性斷口

鋼鐵夾雜物BSE

鋼鐵夾雜物BSE

鋼鐵夾雜物SE

鋼鐵夾雜物SE

硅藻-1

硅藻-1

硅藻-2

硅藻-2

雞葡萄球菌-1

雞葡萄球菌-1

雞葡萄球菌-2

雞葡萄球菌-2

大米

大米

糯米淀粉顆粒-1

糯米淀粉顆粒-1

糯米淀粉顆粒-2

糯米淀粉顆粒-2

受潮鹽顆粒

受潮鹽顆粒

粉體-鈦酸鋇

粉體-鈦酸鋇

粉體-硫酸鎂

粉體-liusuan鎂

粉體-氧化鋁

粉體-氧化鋁

過濾功能材料

過濾功能材料

巖石

巖石

納米材料-二氧化硅微球

納米材料-二氧化硅微球

SiC陶瓷BSE

SiC陶瓷BSE

SiC陶瓷SE

SiC陶瓷SE

陶瓷復(fù)合材料

陶瓷復(fù)合材料

產(chǎn)品參數(shù)

型號(hào)SEM3200ASEM3200
電子光學(xué)系統(tǒng)電子槍類型預(yù)對(duì)中型發(fā)叉式鎢燈絲電子槍
分辨率高真空3 nm @ 30 kV(SE)
4 nm @ 30 kV(BSE)
8 nm @ 3 kV(SE)
*低真空3 nm @ 30 kV(SE)
放大倍率1-300,000x(底片倍率)
1-1000,000x(屏幕倍)
加速電壓0.2 kV~30 kV
成像系統(tǒng)探測(cè)器二次電子探測(cè)器(ETD)
*背散射電子探測(cè)器,、*低真空二次電子探測(cè)器、*能譜儀EDS等
圖像保存格式TIFF,、JPG,、BMP、PNG
真空系統(tǒng)真空模式高真空優(yōu)于5×10-4 Pa
*低真空5~1000 Pa
控制方式全自動(dòng)控制
樣品室攝像頭光學(xué)導(dǎo)航
樣品倉(cāng)內(nèi)監(jiān)控
樣品臺(tái)配置三軸自動(dòng)五軸自動(dòng)
行程X: 120 mmX: 120 mm
Y: 115 mmY: 115 mm
Z: 50 mmZ: 50 mm
/R: 360°
/T: -10°~ +90°
軟件語(yǔ)言中文
操作系統(tǒng)Windows
導(dǎo)航光學(xué)導(dǎo)航,、手勢(shì)快速導(dǎo)航
自動(dòng)功能自動(dòng)亮度對(duì)比度,、自動(dòng)聚焦,、自動(dòng)像散
特色功能智能輔助消像散、*大圖拼接(選配軟件)
安裝要求房間長(zhǎng) ≥ 3000 mm,,寬 ≥ 4000 mm,,高 ≥ 2300 mm
溫度20 ℃~25 ℃
濕度≤ 50 %
電氣參數(shù)電源AC 220 V(±10 %),50 Hz,,2 kVA
掃描電子顯微鏡SEM3200





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