磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片
一,、A1型簡介:
A1型靈敏度試片先由日本無損檢測學(xué)會提出,,以后為多個國家使用,主要用于零部件的磁粉探傷,,在檢查中,,對幾何形狀復(fù)雜,不同材質(zhì)的工作,,可以正確地選擇磁化規(guī)范,,并可檢查探傷設(shè)備,磁粉和磁懸液的性能,,在磁粉探傷操作過程中,,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,,并對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者的調(diào)試工具,。
二、特點:試片用于磁粉顯示,,圖象直觀,,使用簡便。對各類零件所有方向的磁場,,尤其檢查形狀復(fù)雜的零件時,,表現(xiàn)其*的優(yōu)點。
三,、性能規(guī)格:A型標(biāo)準(zhǔn)試片分為A1,、A2;A1為退火材料制成,,A2為不作熱處理的冷軋材料制成,。本試片按JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)特別注明A1試片,與日本JISG0565-6標(biāo)準(zhǔn)和美國ASME SE709標(biāo)準(zhǔn)相對應(yīng),。本試片為A1 (15/50μ)標(biāo)準(zhǔn)試片,。相當(dāng)于A1型試片中2# (30/100μ)標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片,規(guī)格為(8-9)D,;適用于中靈敏度探傷,,其中括號中分子為槽深,分母為試片厚度,單位為(微米),,D為工件直徑,。
四、本套試片包括:
1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
4# 7/50μ
5# 15/50μ
6# 30/50μ
共六片不同規(guī)格的試片組成
五,、使用方法:
1,、標(biāo)準(zhǔn)試片適宜于連續(xù)磁化法,使用時應(yīng)選適當(dāng)靈敏度的試片,,將刻有槽的一面朝向工件,,用膠帶紙緊密地貼上,保證試片與被檢面接觸良好,,膠帶紙貼于試片兩邊緣,,不能覆蓋試片背面的刻槽部位。
2,、進行外加懸場法,,對工件進行磁化,并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉(磁化規(guī)范由低檔逐提高,,以顯示磁痕為界,,即是磁化電流)。上述步驟完畢后,,貼在工件表面上的試片,,即可清楚顯示磁痕。
注意事項:
1,、試片使用前,,用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去,再用膠帶紙緊密地貼在工件上,,保證試片與被檢面接觸良好,。
2、試片用后請涂防銹油,。
3,、試片有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用,。
磁粉標(biāo)準(zhǔn)試片D1用于檢驗磁粉探傷設(shè)備,、磁粉和磁懸液的綜合性能(系統(tǒng)靈敏度),及磁化方向,,有效磁化范圍和大致的有效磁場強度,。
磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片