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產(chǎn)品型號CST-50
品 牌其他品牌
廠商性質生產(chǎn)商
所 在 地濟南市
更新時間:2025-02-17 14:16:40瀏覽次數(shù):816次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應用領域 | 電子/電池 |
CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國內廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質量的專用光學儀器,,該儀器是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標準樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,,其優(yōu)點是操作簡便,,檢查對比直觀,效率高。CST-50型是我們根據(jù)目前國內廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設計,、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質量的專用光學儀器,,該儀器是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標準樣板圖比對,,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,,其優(yōu)點是操作簡便,檢查對比直觀,,效率高,。CST-50型是我們根據(jù)目前國內廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質量的專用光學儀器,,該儀器是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標準樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,,其優(yōu)點是操作簡便,,檢查對比直觀,效率高,。CST-50型是我們根據(jù)目前國內廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設計,、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質量的專用光學儀器,該儀器是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標準樣板圖比對,,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,,其優(yōu)點是操作簡便,,檢查對比直觀,效率高,。CST-50型是我們根據(jù)目前國內廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設計,、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質量的專用光學儀器,該儀器是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標準樣板圖比對,,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點是操作簡便,,檢查對比直觀,,效率高。CST-50是我們根據(jù)目前國內廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設計,、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質量的專用光學儀器,,該儀器是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標準樣板圖比對,,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,,其優(yōu)點是操作簡便,檢查對比直觀,效率高,。CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國內廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設計,、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質量的專用光學儀器,該儀器是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標準樣板圖比對,,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點是操作簡便,,檢查對比直觀,,效率高。
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