當前位置:上海梓夢科技有限公司>>材料分析設備>>ZS920 動態(tài)光散射納米粒度儀>> S920動態(tài)光納米粒度儀
參 考 價 | 面議 |
產品型號S920
品 牌其他品牌
廠商性質生產商
所 在 地上海市
更新時間:2024-12-12 12:43:14瀏覽次數(shù):3482次
聯(lián)系我時,,請告知來自 化工儀器網(wǎng)產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 10萬-30萬 |
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應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,制藥,綜合 | 重復性 | 小于1% |
測量角度 | 11°≤X≤175° | 光源波長 | 532nm/671nm 固體激光器 |
動態(tài)光納米粒度儀性能特點
1,、高效的光路系統(tǒng):采用固體激光器和一體化光纖技術集成的光路,,充分滿足空間相干性的要求,極大地提高了散射光信號的信噪比,。
2,、高靈敏度光子探測器:采用計數(shù)型光電倍增管或雪崩光電二極管,對光子信號具有*的靈敏度和信噪比,; 采用邊沿觸發(fā)模式對光子進行計數(shù),,瞬間捕捉光子脈沖的變化。
3,、大動態(tài)范圍高速光子相關器:采用高,、低速通道搭配的結構設計光子相關器,有效解決了硬件資源與通道數(shù)量之間的矛盾,,實現(xiàn)了大的動態(tài)范圍,,并保證了相關函數(shù)基線的穩(wěn)定性。
4,、高精度溫控系統(tǒng):基于半導體制冷技術,,采用自適應PID控制算法,使樣品池溫度控制精度達±0.1℃,。
5,、數(shù)據(jù)篩選功能:引入分位數(shù)檢測異常值的方法,鑒別受灰塵干擾的散射光數(shù)據(jù),,并剔除異常值,,提高粒度測量結果的準確度。
6,、優(yōu)化的反演算法:采用擬合累積反演算法計算平均粒徑及多分散系數(shù),,基于非負約束正則化算法反演顆粒粒度分布,測量結果的準確度和重復性都優(yōu)于1%,。
zeta電位分析儀測量
Zeta電位是表征分散體系穩(wěn)定性的重要指標zeta電位愈高,,顆粒間的相互排斥力越大,膠體體系愈穩(wěn)定,, 因此通過電泳光散射法測量zeta電位可以預測膠體的穩(wěn)定性,。
原理
帶電顆粒在電場力作用下向電極反方向做電泳運動,單位電場強度下的電泳速度定義為電泳遷移率,。顆粒在電泳遷移時,,會帶著緊密吸附層和部分擴散層一起移動,,與液體之間形成滑動面,滑動面與液體內部的電位差即為zeta電位,。Zeta電位與電泳遷移率的關系遵循 Henry方程,,通過測量顆粒在電場中的電泳遷移率就能得出顆粒的zeta電位。
zeta電位分析儀性能特點
1.利用光纖技術集成發(fā)射光路和接收光路,,替代傳統(tǒng)電泳光散射的分立光路,,使參考光和散射光信號的傳輸不受灰塵和外界雜散光的干擾,有效地提高了信噪比和抗干擾能力,。
2.先對散射光信號進行頻譜預分析,,獲取需要細化分析的頻譜范圍,然后在窄帶范圍內進行高分辨率的頻譜細化分析,,從而獲得準確的散射光頻移,。
3.基于雙電層理論模型,求解顆粒的雙電層厚度,,獲得準確的顆粒半徑與雙電層厚度的比值,,再利用最小二乘擬合算法獲得精確的Henry函數(shù)表達式,進而有效提高了zeta電位的計算精度,。
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