半導(dǎo)體用超高動(dòng)態(tài)范圍標(biāo)準(zhǔn)光源 參考價(jià)：面議
SL-HDR標(biāo)準(zhǔn)光源系統(tǒng)是光焱科技根據(jù)多種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)應(yīng)用于多種CMOS相機(jī)模塊（CCM, CIS Camera Module）的檢測(cè),，包含：oEMVA ...
新型單光子偵測(cè)器特性分析設(shè)備 參考價(jià)：面議
單光子探測(cè)器可以對(duì)單個(gè)光子進(jìn)行探測(cè)和計(jì)數(shù),，在許多可獲得的信號(hào)強(qiáng)度僅為幾個(gè)光子能量級(jí)的新興套用中,，單光子探測(cè)器可以一展身手。SPD2200是針對(duì)新型的單光子偵測(cè)器...
雷射掃描缺陷圖譜儀 參考價(jià)：面議
激光掃描缺陷成像儀是激光束感應(yīng)電流（LBIC）測(cè)試的升級(jí)版本,。它利用波長(zhǎng)能量大于半導(dǎo)體帶隙的激光束照射半導(dǎo)體,，產(chǎn)生電子空穴對(duì)。通過(guò)快速掃描樣品表面,，獲得揭示內(nèi)部...
先進(jìn)光電探測(cè)器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
APD-QE 采用了光束空間強(qiáng)度技術(shù),，利用 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)制定的「Irradiance Mode」測(cè)試方式，與各種先進(jìn)探尖臺(tái)形成完整的微米級(jí)光感測(cè)器全光譜效率測(cè)...
光焱科技 電致發(fā)光效率測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
LQ-50X-EL 光焱科技電致發(fā)光效率測(cè)試系統(tǒng) 擁有以下幾點(diǎn)特色：采用單光子偵測(cè)技術(shù),、NIR 增強(qiáng)光學(xué)設(shè)計(jì)與組件,、簡(jiǎn)便的設(shè)計(jì)可與手套箱直接整合，能解決目前LE...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
5