產(chǎn)品簡(jiǎn)介

光焱科技REPS Voc損耗分析儀可以檢測(cè)極低的 EL-EQE 信號(hào)（低至 10-5%,，即 7 個(gè)數(shù)量級(jí)）,，還可以計(jì)算熱力學(xué) Voc、輻射復(fù)合 Voc 和非輻射復(fù)合 Voc（通過(guò)其軟件SQ-VLA）,。此外,，也可以在一個(gè)柱狀圖中分析不同類型設(shè)備之間的ΔE1,、ΔE2和ΔE3損耗,。重要的是，分析軟件可以幫助用戶將計(jì)算出的Voc-loss與設(shè)備IV曲線的真實(shí)Voc-loss進(jìn)行匹配,，從而促進(jìn)研究進(jìn)展和期刊發(fā)表,。

特色

*它可以測(cè)量：absolute EL-EQE、EL spectra(V),、JV curve,、EQE-J。

*該軟件可以顯示的圖表包括：EL-EQE(J),、EL-EQE(V) ,、multi-EL-spectra、 JVL曲線、ΔE1,、 ΔE2,、和ΔE3直方圖。

*該系統(tǒng)可以計(jì)算和分析熱力學(xué)Voc,、輻射復(fù)合Voc和非輻射復(fù)合Voc,。

*波長(zhǎng)檢測(cè)范圍：300~1100納米；并可擴(kuò)展到1700納米（選項(xiàng)）,。

* NIST-traceable absolute radiometric calibration（瓦特,，從300~1100納米）。

*EL-EQE檢測(cè)范圍：10^-5%到極大值（動(dòng)態(tài)范圍7階）,。

*EL-EQE un-repeatability<1%,。

*EL-EQE un-reproducibility<1.5%。

*EL低光檢測(cè)SN比：>50:1 @5×10^-5%（REPS Pro）,。

*Glove Box 整合工具包,。

*客制的測(cè)試夾具。

規(guī)格

REPS系統(tǒng)另有進(jìn)階類型(REPS Pro),，其規(guī)格比較如下：

應(yīng)用范圍

光焱科技REPS Voc損耗分析儀可用于：

– 改善OPV的Voc-loss

– 改善鈣鈦礦 Voc-loss

– 電荷傳輸狀態(tài)識(shí)別