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| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 環(huán)保,生物產業(yè),農業(yè),地礦,電子 |
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| 電 阻 | 1×10-4～2×105 Ω |
產品分類品牌分類
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產品簡介
詳細介紹
XNC-2253型數字式四探針測試儀
XNC-2253型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》,、GB/T 1552-1995《硅,、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。
儀器成套組成：由主機,、選配的四探針探頭,、測試臺以及PC軟件等部分組成。
主機主要由精密恒流源,、高分辨率ADC,、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，USB通訊接口,。儀器主機所有參數設定,、功能轉換全部采用數字化鍵盤和數碼開關輸入；具有零位,、滿度自校功能,；測試功能可自動/手動方式；儀器操作可由配套軟件在PC機上操作完成,，也可脫PC機由四探針儀器面板上獨立操作完成。測試結果數據由主機數碼管直接顯示,，也可連機由軟件界面同步顯示,、分析、保存和打??！
探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配,。有高耐磨碳化鎢探針探頭,，以測試硅類半導體、金屬,、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻,；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜,、金屬涂層或薄膜,、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻,、金屬導體的低,、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配專用探頭,，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻,。
測試臺選配：一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺,，也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率,，選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。
詳見《四探針儀器,、探頭和測試臺的特點與選型參考》點擊進入
儀器具有測量精度高,、靈敏度高、穩(wěn)定性好,、智能化程度高,、測量簡便、結構緊湊,、使用方便等特點,。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位,、高等院校對導體,、半導體、類半導體材料的導電性能的測試,。
三,、基本技術參數
3.1 測量范圍
電 阻：1×10-4～2×105 Ω ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω
電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm,，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm
方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□,，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
3.2 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)
直 徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm,，手持方式不限.
長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測量方位: 軸向,、徑向均可
3.3. 4-1/2 位數字電壓表：
(1)量程： 20.00mV～2000mV
(2)誤差：±0.1%讀數±2 字
3.4 數控恒流源
(1)量程：0.1μA，1μA,，10μA,，100µA，1mA,，10mA,，100mA，1A
(2)誤差：±0.1%讀數±2 字
3.5 四探針探頭（選配其一或加配全部）
(1)碳化鎢探針：Φ0.5mm,，直線探針間距1.0mm,，探針壓力: 0～2kg 可調
(2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調
3.6. 電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<20W
3.7.外形尺寸：
主 機 220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高）
凈 重：≤2.5kg