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目錄:蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司>>礦產(chǎn)分析儀>>礦產(chǎn)光譜儀>> EDX-9000B PLUSXRF 礦產(chǎn)礦石專用分析儀

XRF 礦產(chǎn)礦石專用分析儀
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參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 英飛思
  • 型號(hào) EDX-9000B PLUS
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 蘇州市
屬性

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更新時(shí)間:2025-01-08 15:18:04瀏覽次數(shù):486評(píng)價(jià)

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產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 30萬(wàn)-50萬(wàn)
應(yīng)用領(lǐng)域 石油,地礦,能源,建材/家具
Simply the Best

>先進(jìn)制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測(cè)器

>真空光路配備薄膜濾光片技術(shù),,提高輕元素檢出限

>可同時(shí)分析40種元素

>可分析固體,,液體,,粉末和泥漿

>進(jìn)口X光管管芯提供可靠樣品激發(fā)性能

>無(wú)損檢測(cè),快速分析(1-2分鐘出結(jié)果)

>無(wú)需化學(xué)試劑,,無(wú)耗材,,更環(huán)保,更高效

EDX9000B Plus能量色散X熒光光譜儀-礦產(chǎn)/礦石分析專家

ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應(yīng)用于采礦作業(yè)(勘探,、開采,、品位控制),工業(yè)礦物,,生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料,,耐火材料,陶瓷和玻璃,,地球化學(xué)學(xué)術(shù)研究,,考古等。EDX9000B plus優(yōu)異的線性動(dòng)態(tài)范圍,,可實(shí)現(xiàn)在水泥,、礦物、采礦,、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進(jìn)行超高精度的過(guò)程控制和質(zhì)量控制,。具有全新真空光路系統(tǒng)和超高分辨率技術(shù)的新一代Fast SDD檢測(cè)器,,對(duì)輕、中,、重元素和常見氧化物(Na2O,、MgO、Al2O?,、SiO?,、P2O5、SO?、K2O,、CaO,、TiO?、Cr2O?,、MnO,、Fe2O?、ZnO和SrO等)都可達(dá)到最佳分析效果,。


EDX9000B plus可以輕松完成對(duì)以下礦種的測(cè)試:

鐵礦(磁鐵礦,、赤鐵礦、鈦鐵礦,、菱鐵礦等)銅礦(黃銅礦,、赤銅礦、孔雀石等)鉻礦(鉻鐵尖晶石,、鉻鐵礦,、鉻鉍礦等)鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦,、鎢鉬礦等)鎢礦(白鎢礦,、黑鎢礦、錫鎢礦等)鉭礦(鉭鐵礦,、鈮鐵礦,、燒綠石等)鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦,、白鉛礦等)鎳礦(紅土鎳礦,、硫化銅鎳礦等)鋁土礦其它礦類


產(chǎn)品特點(diǎn)

1.小型化、高性能,、高速度,、易操作,Na11-U92高靈敏度,、高精度分析2.可同時(shí)分析40種元素3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景技術(shù)

4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測(cè)器提供出色的短期重復(fù)性和長(zhǎng)期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率5.超高記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計(jì),,雙真空抽速機(jī)構(gòu),真空度自動(dòng)穩(wěn)定系統(tǒng)6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件,,多任務(wù),,多窗口操作7.薄膜濾光片技術(shù),有效提高輕元素檢出限礦產(chǎn)元素檢測(cè)專家EDX9000B Plus


>儀器參數(shù)

XRF 礦產(chǎn)礦石專用分析儀

>儀器配置

XRF 礦產(chǎn)礦石專用分析儀


全新設(shè)計(jì)的XTEST分析軟件

軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法(FP),,經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法(EC),可輕松分析各類樣品,。*光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性,堆積峰和峰總和,,平滑度以及測(cè)量到的峰背景光譜的數(shù)量*對(duì)吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的校正,,即所有基質(zhì)效應(yīng),增強(qiáng)和吸收。*譜顯示:峰定性,,KLM標(biāo)記,,譜重疊比較,可同時(shí)顯示多個(gè)光譜圖*可以通過(guò)積分峰的凈面積或使用測(cè)得的參考光峰響應(yīng),,將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù),。*可以使用純基本參數(shù)方法,具有分散比的基本參數(shù)(對(duì)于包含大量低Z材料的樣品)或通過(guò)簡(jiǎn)單的最小二乘擬合進(jìn)行定量分析,。*基本參數(shù)分析可以基于單個(gè)多元素標(biāo)準(zhǔn),,多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。


鋁土礦樣品10次連續(xù)測(cè)試穩(wěn)定性報(bào)告

XRF 礦產(chǎn)礦石專用分析儀



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