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蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公...

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鍍層測厚儀EDX8000T plus全新發(fā)布

閱讀:1435      發(fā)布時間:2022-9-26
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鍍層測厚儀EDX8000T plus全新發(fā)布

經(jīng)過多年研發(fā),,英飛思科學(xué)儀器全新推出X射線熒光光譜鍍層測厚儀,。

主要優(yōu)點:

>微光斑垂直光路專為鍍層厚度分析而設(shè)計

>高計數(shù)率硅漂移檢測器 (SDD) 可實現(xiàn)快速,,無損,,高精度測量

>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)精確的點位測量功能有助于提高測量精度

>全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件,,可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量

  

背景介紹

材料的鍍層厚度是一個重要的生產(chǎn)工藝參數(shù),,其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、裝飾效果,、導(dǎo)電性,、產(chǎn)品的可靠性和使用壽命,因此,,鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量,、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用,。英飛思開發(fā)的EDX8000T Plus鍍層測厚儀是專門針對于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測定,。其主要優(yōu)點是準(zhǔn)確,快速,,無損,,操作簡單,測量速度快,??赏瑫r分析多達(dá)五層材料厚度,并能對鍍層的材料成分進(jìn)行快速鑒定,。

 

XRF鍍層測厚儀工作原理

鍍層測厚儀EDX8000T Plus是將X射線照射在樣品上,,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低,,所以不會對樣品造成損壞,。同時,測量的也可以在10-30秒內(nèi)完成,。

 

膜厚儀EDX8000T Plus產(chǎn)品特點

>全新的下照式一體化設(shè)計,,

>測試快速,無需樣品制備

>可通過內(nèi)置高清CCD攝像機來觀察及選擇定位微小面積鍍層厚度的測量,,避免直接接觸,,污染或破壞被測物,。軟件配備距離補正算法,實現(xiàn)了對不規(guī)則樣品(如凹凸面,,螺紋,,曲面等)的異型件的精準(zhǔn)測試

>備有多種以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品

>可覆蓋元素周期表Mg鎂到U

>SDD檢測器,具有高計數(shù)范圍和出色的能量分辨率

>自動切換準(zhǔn)直器和濾光片0.15mm,0.2mm,0.3mm

 

膜厚儀EDX8000T Plus應(yīng)用場景

>EDX8000T Plus鍍層測厚儀可以用于PCB鍍層厚度測量,,金屬電鍍鍍層分析,;

>測量的對象包括鍍層、敷層,、貼層,、涂層、化學(xué)生成膜等

>可測量離子鍍,、電鍍,、蒸鍍,、等各種金屬鍍層的厚度

>鍍鉻,,例如帶有裝飾性鍍鉻飾面的塑料制品

>鋼上鋅等防腐涂層

>電路板和柔性PCB上的涂層

>插頭和電觸點的接觸面

>貴金屬鍍層,如金基上的銠材料分析

>分析電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能涂層

>分析硬質(zhì)材料涂層,,例如 CrN,、TiN TiCN

>可拓展增加RoHS有害元素分析功能電鍍液離子濃度分析


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