高靈敏度光譜儀EDX8000MAX測(cè)金儀用于爐渣中金和銀的測(cè)定
耐火坩堝用于精煉金 (Au) 和銀 (Ag),。在精煉過程中,，少量金屬擴(kuò)散到坩堝。在其生命周期結(jié)束時(shí),，坩堝被壓碎并研磨,，研磨后的物質(zhì)稱為渣滓。 黃金和從浮渣中回收銀,。洗滌液中金銀濃度
浮渣一般高于其相應(yīng)礦石中的濃度,。需要測(cè)定浮渣中的 Au 和 Ag，了解其商業(yè)價(jià)值,。
常用的分析技術(shù)如原子吸收光譜法,、光發(fā)射光譜法和電感耦合等離子體質(zhì)譜法是溶液采樣技術(shù)。由于渣滓難熔且具有化學(xué)惰性,，需要一個(gè)復(fù)雜而耗時(shí)的程序?qū)⑵鋷虢鉀Q方案,。此外，在分解過程中,，存在風(fēng)險(xiǎn)污染,，直接或通過試劑，以及損失分析物,。由于渣滓難分解考慮解決方案抽樣技術(shù)的缺點(diǎn),，總是更好有技術(shù)可以直接確定黃金和白銀浮渣。 X 射線熒光 (XRF) 已被確立為用于直接分析固體的非常有效和通用的分析技術(shù),。
能量色散 XRF (EDXRF) 是一種無損技術(shù),，是快速且需要最少的樣品制備。 EDXRF
技術(shù)已用于測(cè)定金和銀在各種基質(zhì)中,，包括礦石,、銀珠、珠寶和考古材料,。
在 XRF 技術(shù)中,，基質(zhì)成分會(huì)影響測(cè)量的分析物線強(qiáng)度。因此,，矩陣匹配的標(biāo)準(zhǔn)是定量分析所需,。在本工作中使用標(biāo)準(zhǔn)添加方法作為基質(zhì)匹配標(biāo)準(zhǔn)不可用。加標(biāo)方法一般為
用于溶液取樣技術(shù),，添加的分析物必須與測(cè)試樣品中的分析物具有相同的化學(xué)形式,。作為
X 射線的發(fā)射不取決于物質(zhì)的化學(xué)狀態(tài)原子，添加的分析物的化學(xué)形式不必是在 XRF 分析的情況下,，與測(cè)試樣品中的分析物相同,。樣品制備是 XRF 測(cè)定中最關(guān)鍵的步驟。壓片和熔珠是 XRF 測(cè)量中樣品制備的兩種方法,。在熔珠法中,，樣品和助焊劑(1:15 w/w) 通過在一定溫度下加熱熔化在 Pt-5% Au 坩堝中1250°C。雖然熔珠法制備的樣品具有更好的均勻性,，樣品被助焊劑稀釋從而降低珠中分析物濃度的 15 倍,。此外，還有一個(gè)由于與鉑合金化,，可能會(huì)損失金和銀
熔珠法中使用的坩堝,。因此，被壓本工作采用顆粒法,。Au (L β: 11.4 keV) 和 Ag 的無干擾特征 X 射線(Kβ: 24.9 keV) 被選擇用于量化,。Au L α 的強(qiáng)度(9.71 keV) 和 L β (11.44 keV) 線是相同的。因此,，任何可以使用這兩行之一,。為了分析熔渣，AuL β 線的選擇是考慮到矩陣效應(yīng)的結(jié)果Cu（K 邊：8.99 keV）和 Zn（K 邊：9.67 keV）,。對(duì)于銀的量化,，使用了 Ag K β 線 (24.9 keV)。銀的定量使用 Ag Kα 線（22.16 keV）無法進(jìn)行,，因?yàn)?/span>
Rh 源線和 15-23 keV 范圍內(nèi)的高強(qiáng)度軔致輻射,。使用 Rh 源激發(fā)樣品(20.21 keV)。由于銀的 L 吸收邊緣為 3.82 keV,，因此由于橫截面低而未觀察到特征 L 線）,。
EDX-8000 Max
高分辨率SDD檢測(cè)器
貴金屬珠寶檢測(cè)儀
黃金檢測(cè)儀
>最快10秒出結(jié)果
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