X熒光硫測定儀是基于X射線熒光光譜技術(shù)分析的一種測試光譜儀。
X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer,，簡稱：XRF光譜儀）,，是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法,。
其原理是用X光激發(fā)源照射待分析的油樣,，樣品中硫元素的內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷,，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候，會放射出硫元素的特征 X 光,。檢測器(Detector)接受這些硫元素的特征X光信號,，儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)為對應(yīng)的測試強度。用標準物質(zhì)樣品建立特征X射線強度與硫含量之間的關(guān)系,，也就是標定曲線,。在建立了硫元素不同含量范圍的標定曲線后，再去測試未知樣品,，便可快速分析石油及其他液體中的硫含量,。
X熒光測硫儀的優(yōu)勢
1.快速，一個樣品通常只要100秒即可得出S硫含量
2.準確,，測試結(jié)果可以達到實驗室級別精度
3.無損,。X熒光測硫儀是一種非破壞性分析。對樣品是無損的
4.樣品制備簡單,，僅需要將樣品放入5ml專用樣品杯,，即可上機測試。
5.使用和維護成本低,，不需要消耗惰性氣體
6.操作簡單,，上手快速，無需每日重復(fù)標定,，大大提升測試效率
7.線性動態(tài)范圍寬,，可分析從1mg/L到10000mg/L的硫含量
8.不受樣品基體影響，X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān),，而且跟固體,、粉末、液體及晶質(zhì),、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系
9.長期穩(wěn)定性和測試精密度高
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