壓片法相對于粉末樣品直接測試用于XRF熒光光譜儀有什么優(yōu)勢？
X射線熒光光譜法（XRF）對樣品材料的制備高度敏感,。壓片的水泥樣品顯示出較高的信噪比,，與松散粉末形式相比，這可以檢測最輕的元素,。
當(dāng)定量元素組成時,，在預(yù)期值和散粉樣品之間觀察到明顯的差異,。當(dāng)使用同一批水泥來制備壓制顆粒時，這些差異會消失,。
XRF光譜分析信號由兩個部分組成：
在特征波長處的X射線發(fā)射峰與所分析樣品的原子內(nèi)發(fā)生的電子躍遷相對應(yīng)
由松散結(jié)合的外部電子散射的X射線的連續(xù)背景,，在該電子上疊加了發(fā)射峰
這些特征性X射線通常是由于樣品表面以下1-1000 µm深度處的表面原子所致。 確切的深度取決于其原子量,。 如果元素較輕,，則較重元素更難檢測。
背景散射和發(fā)射峰的強度均受粒度,，礦物成分和顆粒密度的影響,。 但是，將樣品研磨至非常細的顆粒大小,，然后壓縮成光滑平整的XRF顆粒,，可以減少背景散射并改善對排放物的檢測。
顆粒和散粉中重元素和輕元素的比較
使用疏松粉末獲得的光譜顯示出與壓片的顆粒明顯不同,。 顆粒顯示出更高的信噪比,，這使得最輕的元素可以輕易地在背景之上被檢測到。 由于不需要薄膜,，因此可以在真空條件下進行測量,，從而進一步改善了顆粒的性能。
對于準確定量至關(guān)重要的是,，用戶可以清楚地檢測出樣品中的所有元素,。 在散粉樣品中，較輕的Al,，Mg和Na元素的低估會導(dǎo)致水泥中Fe和Ca的高估,。 另一方面，樣品沉淀物提供的定量與標準實驗室實驗確定的范圍一致,。
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