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MorphoVIEW 系列圖像粒度粒形分析儀用于測量顆粒粒度與粒形參數(shù)。顆粒粒度粒形是反應(yīng)顆粒特性的基本指標,它決定了顆粒的物理,、化學、力學等特性,。為了控制產(chǎn)品...
Zetatronix 系列納米粒度及Zeta電位分析儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位,。納米顆粒由于粒徑十分細小,其表面的晶體結(jié)構(gòu)發(fā)生變化,,從而在電學,、光學和化學...
MorphoVIEWS380靜態(tài)圖像粒度粒形分析儀基于顯微鏡結(jié)構(gòu),通過自動樣品臺帶動顆粒在平面內(nèi)移動,,使用高分辨率相機逐張進行拍照,,在圖像采集過程中顆粒保持靜止...
MorphoVIEW系列動態(tài)圖像粒度粒形分析儀,在運動過程中捕捉顆粒的圖像,,具有采樣量大,,無取向誤差等特點。利用高分辨率工業(yè)相機,,顆粒圖像更清晰,,測量結(jié)果更準確...
9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件,使用動態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度,,使用相位分析光散射技術(shù)測量Zeta電位,,使用靜態(tài)光散射技術(shù)測量...
9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件,使用動態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度,,使用相位分析光散射技術(shù)測量Zeta電位,,使用靜態(tài)光散射技術(shù)測量...
9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件,使用動態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度,,使用相位分析光散射技術(shù)測量Zeta電位,,使用靜態(tài)光散射技術(shù)測量...
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