一,、臺式數(shù)顯單晶硅片測厚儀產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品名稱：厚度測定儀Thickness Tester；

產(chǎn)品型號：FX-019系列,；

標準依據(jù)：GB/T 451.3 ,、QB/T 1055 、ISO 534,、GB/T 6547,、GB/T 24328.2,；

二、儀器用途

臺式數(shù)顯厚度測定儀適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜,、薄片,、隔膜、紙張,、箔片,、硅片等各種材料的厚度精確測量，也可用于檢測紙張,、紙板,、無紡布和紡織品等的厚度。紙張型厚度儀用于檢測包裝用紙和涂布印刷紙的厚度,，無紡布型厚度儀用于檢測衛(wèi)生紙和無紡布等薄型片狀材料,。瓦楞紙板型用于檢測瓦楞紙板和紙箱類產(chǎn)品的厚度。同時可以用于檢測薄膜,、云母片,、片狀復(fù)合材料等等材料的厚度。

三,、臺式數(shù)顯單晶硅片測厚儀2款產(chǎn)品參數(shù)

技術(shù)參數(shù)：（適用于包裝用紙,、涂布印刷紙、高克重薄膜）,；

測量范圍：0-4mm,，精度：0.01mm/0.001mm；

示值誤差：0.05,；

接觸面積：200mm2,；

接觸壓力：100kpa；

平 行 度：0.035mm,；

重 量：約5kg,；

技術(shù)參數(shù)（Parameter）：（適用于衛(wèi)生紙、無紡布,、低克重薄膜）,；

測量范圍：（04）mm，分度值0.001mm,；

示值誤差：0.05,；

接觸面積：1000±20mm2；

接觸壓力：（2±0.1）kPa,；

平 行 度：0.035mm,；

重 量：約5.5kg；

工作環(huán)境：溫度（20±10）,，濕度＜85,；