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| 價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 探測器及其他設(shè)備 |
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
X射線衍射儀X-Ray分析力提高一體化高分辨率
高分辨X射線衍射儀其可靠性的增強及性能的改進提高了分析能力,，提供一體化解決方案來滿足不同需求和應(yīng)用：
• 半導(dǎo)體和單晶晶圓：倒易空間探索,、搖擺曲線分析
• 多晶固體和薄膜：織構(gòu)分析,、反射測量
• 超薄薄膜,、納米材料和非晶層：掠入射物相鑒定、面內(nèi)衍射
• 非常溫條件下的測量：隨溫度和時間變化的峰高
推動薄膜領(lǐng)域的材料研究材料研究的進步給我們的生活方式帶來了巨大變化,。例如,，材料技術(shù)推動了通信技術(shù)的發(fā)展，而這些技術(shù)如今早已成為我們?nèi)粘Ｉ钪忻懿豢煞值囊徊糠?。薄膜結(jié)構(gòu)是電子,、光學、機械和能源應(yīng)用的許多高級功能設(shè)備的核心所在,。多層材料現(xiàn)在,，生長技術(shù)允許多層結(jié)構(gòu)沉積，其中各層的厚度可以從微米級別低至單分子層級別,。高級薄膜設(shè)備所涉及的典型材料包括半導(dǎo)體,、金屬合金、介電材料和化合物,。在各種薄膜結(jié)構(gòu)中,，通常需要進行多次測量來分析各種屬性,，比如層厚、晶相和合金成分,、應(yīng)力,、結(jié)晶度、密度和界面形態(tài)等,。研究和監(jiān)測結(jié)構(gòu)特性為了設(shè)計,、理解和改進新器件，在多步制程的每個階段都必須測量關(guān)鍵的結(jié)構(gòu)特性,。在薄膜器件的研究,、開發(fā)和生產(chǎn)中，對薄膜性能的監(jiān)測是不可少的一步,。
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