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南陽安捷倫E5070B網(wǎng)絡分析儀3G租賃
Agilent E5070B ENA 射頻網(wǎng)絡分析儀,，300 kHz 至 3GHz 主要特性與技術指標 在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值） 掃描速度：9.6微秒/點 跡線噪聲：0.001 dB rms 集成的2、3和4端口,，帶有平衡
南陽安捷倫E5070B網(wǎng)絡分析儀3G租賃
南陽安捷倫E5070B網(wǎng)絡分析儀3G租賃
Agilent E5070B網(wǎng)絡分析儀提供了最快,、的射頻器件測量能力。其良好的體系結構通過減少掃描次數(shù)來完成多端口測量,，進一步提高了測試吞吐率,。
300 kHz 至 3GHz
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口,，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic ® for Applications（VBA）
測量向?qū)е周浖?/font>
主要技術指標
在測試端口處保持125dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001dB rms
集成的2,、3和4端口，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設備的頻率偏置模式
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在測試端口處保持125dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001dB rms
集成的2,、3和4端口,，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設備的頻率偏置模式
內(nèi)置VisualBasic for Applications（VBA）
測量向?qū)е周浖?br style="overflow-wrap: break-word;" />要技術指標
在測試端口處保持125dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001dB rms
集成的2,、3和4端口,，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設備的頻率偏置模式
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測量向?qū)е周浖?br />E5070B Agilent E5070B網(wǎng)絡分析儀Agilent E5070B網(wǎng)絡分析儀E5070B Agilent E5070B網(wǎng)絡分析儀 Agilent E5070B網(wǎng)絡分析儀提供了最快、的射頻器件測量能力,。其良好的體系結構通過減少掃描次數(shù)來完成多端口測量,，進一步提高了測試吞吐率。 300 kHz 至 3GHz 在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值） 掃描速度：9.6微秒/點 跡線噪聲：0.001 dB rms 集成的2,、3和4端口,，帶有平衡測量能力 夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換 用于變頻設備的頻率偏置模式 內(nèi)置Visual Basic ® for Applications（VBA） 測量向?qū)е周浖饕夹g指標在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）掃描速度：9.6微秒/點跡線噪聲：0.001 dB rms集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換用于變頻設備的頻率偏置模式內(nèi)置Visual Basic ? for Applications（VBA）測量向?qū)е周浖夹g指標在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）掃描速度：9.6微秒/點跡線噪聲：0.001 dB rms集成的2,、3和4端口,，帶有平衡測量能力夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換用于變頻設備的頻率偏置模式內(nèi)置Visual Basic for Applications（VBA）測量向?qū)е周浖夹g指標在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）掃描速度：9.6微秒/點跡線噪聲：0.001 dB rms集成的2、3和4端口,，帶有平衡測量能力夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換用于變頻設備的頻率偏置模式內(nèi)置Visual Basic ? for Applications（VBA）測量向?qū)е周浖?/span>
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