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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子/電池 |
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
產(chǎn)品名稱：薄膜測厚儀
主要技術(shù)指標：
測量范圍（VIS）：15nm—100μm
測量重復(fù)性（RMS）：0.086nm
測量精度（與橢偏儀對比）：0.25nm
測量層數(shù)：大于3層
使用光源：鹵素?zé)簦?
入射角度：90°
測試材料：透明或半透明薄膜材料,；
光斑尺寸：20μm—3mm（可選）
測量時間：100ms—4ms,；
通信接口：USB2.0
產(chǎn)品特點：
采用光譜干涉原理進行測量，具有非接觸,、無破壞,、快速等特點；
可在真空環(huán)境使用,；可與大行程工件臺配合,，實現(xiàn)大面積膜厚自動測量。
薄膜測厚儀測試數(shù)據(jù)：
薄膜測厚儀設(shè)備組成：
測試主機,、光纖,、校正件、測量頭,、夾持裝置,、設(shè)備箱、手提電腦,。