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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
neaSNOM超高分辨散射式近場光學(xué)顯微鏡是德國neaspec公司推出的第三代散射式近場光學(xué)顯微鏡（簡稱s-SNOM），其采用了散射式核心設(shè)計技術(shù),，提高了光學(xué)分辨率,，并且不依賴于入射激光的波長，能夠在可見,、紅外和太赫茲光譜范圍內(nèi),，提供優(yōu)于10nm空間分辨率的光譜和近場光學(xué)圖像。由于其高度的可靠性和可重復(fù)性,。neaSNOM業(yè)已成為納米光學(xué)領(lǐng)域熱點研究方向的科研設(shè)備,，在等離基元、納米FTIR和太赫茲等眾多研究方向得到了許多重要科研成果,。
近,，neaspec公司成功開發(fā)了可見至太赫茲高分辨光譜和成像綜合系統(tǒng)，將上述sSNOM功能與納米紅外（FTIR）,、針尖增強拉曼（TERS）,、超快光譜（ultrafast）和太赫茲光譜（THz）進行聯(lián)用，可以為廣大科學(xué)工作者在等離子激元,、二維材料聲子極化,、半導(dǎo)體載流子子濃度分布、生物材料紅外表征,、電子激發(fā)及衰減過程等的研究上提供相關(guān)支持,。
neaSNOM超高分辨散射式近場光學(xué)顯微鏡技術(shù)特點和優(yōu)勢：
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neaSNOM是目前世界上成熟的s-SNOM產(chǎn)品
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散射式近場光學(xué)測量技術(shù)
—*的*10 nm空間分辨率 -
高階解調(diào)背景壓縮技術(shù)
—在獲得10nm空間分辨率的同時保持*的信噪比 -
干涉式近場信號探測單元
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贗外差干涉式探測技術(shù)
—能夠獲得對近場信號強度和相位的同步成像 -
反射式光學(xué)系統(tǒng)
—用于寬波長范圍的光源：可見,、紅外以至太赫茲 -
高穩(wěn)定性的AFM系統(tǒng)，
—同時優(yōu)化了納米尺度下光學(xué)測量 -
雙光束設(shè)計
—*的光學(xué)接入角：水平方向180°,，垂直方向60° -
操作和樣品準(zhǔn)備簡單
—僅需要常規(guī)的AFM樣品準(zhǔn)備過程
neaSNOM重要應(yīng)用領(lǐng)域：
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表面等離激元
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石墨烯
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六方氮化硼
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光電流/太赫茲
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化學(xué)過程
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高分子/生物材料
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