目錄:上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>光譜系統(tǒng)>>顯微缺陷膜厚>> 膜厚測(cè)量系統(tǒng) FE-3700/5700
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更新時(shí)間:2025-01-23 12:09:44瀏覽次數(shù):363評(píng)價(jià)
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TFT
SiN / a-Si / 玻璃
有機(jī)EL
有機(jī)EL / ITO / 玻璃
PDP
介電層/玻璃
上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng),、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器,、Edmund 光學(xué)元件,、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測(cè)器,、卓立漢光熒光拉曼光譜儀,、是德 Keysight 電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀,、鑫圖科研級(jí)相機(jī),、Semilab 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展,,上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場(chǎng)上已取得了一定的地位,。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度,客戶遍布全國(guó),。我們將繼續(xù)努力,,不斷提升市場(chǎng)地位和影響力。
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