目錄:上海波銘科學儀器有限公司>>光譜系統(tǒng)>>顯微缺陷膜厚>> 紫外分光全光譜光通量測量系統(tǒng)
輻射通量,、光譜輻射通量
殺菌效果*1
峰值波長,,半高寬
基于總光通量測量系統(tǒng)的測量項目
總光通量、三刺激值XYZ,、色度坐標xy,、uv 、u’v’相關色溫,、Duv,、主波長、刺激純度顯色指數(shù),、等色標準偏差
光子量,、外量子效率、發(fā)光效率* 根據(jù)紫外線輻射傷害作用函數(shù)計算
* 1:參考值,。根據(jù)使用 220-850 nm 檢測器的 A 光源測量結果估算
* 2:參考值,。從 250-400 nm 測量中估計的帶有 220-850 nm 檢測器的 A 光源
* 3:可作為選項支持的項目
* 4:對于可選產品,請參閱總光通量測量系統(tǒng)的規(guī)格頁面,。
探測器,、光纖和積分球的配置,包括數(shù)據(jù)處理單元,。
樣品的可選溫度控制溫度表征也是可能的,。
這是測量深紫外 LED(峰值波長 280 nm)的示例。
通過使用高靈敏度檢測器,,可以以良好的重現(xiàn)性測量峰值波長,。
也可以在沒有噪聲成分的情況下評估波形。
此外,,
還可以結合紫外線輻射損傷作用函數(shù)來計算LED 的殺菌效果,。