目錄:上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>光譜系統(tǒng)>>顯微缺陷膜厚>> 橢偏儀 FE-5000/5000S
| 參考價(jià) | 面議 |
| 參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間：2025-01-23 11:52:42瀏覽次數(shù)：361評(píng)價(jià)
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
測(cè)量橢圓參數(shù)（TANψ,，COSΔ）
光學(xué)常數(shù)（n：折射率,，k：消光系數(shù)）分析
薄膜厚度分析
半導(dǎo)體晶圓
柵氧化膜，氮化膜
SiO2,，SixOy,，SiN,，SiON，SiNx,，Al2O3,，SiNxOy，poly-Si,，ZnSe,，BPSG，TiN
光學(xué)常數(shù)（波長(zhǎng)色散）
復(fù)合半導(dǎo)體
AlxGa（1-x）多層膜,、非晶硅
FPD
取向膜
等離子顯示器用ITO,、MgO等
各種新材料
DLC（類金剛石碳）、超導(dǎo)薄膜,、磁頭薄膜
光學(xué)薄膜
TiO2,，SiO2多層膜、防反射膜,、反射膜
光刻領(lǐng)域
g線（436nm）,、h線（405nm）、i線（365nm）和KrF（248nm）等波長(zhǎng)的n,、k評(píng)估
包括s波和p波的線性偏振光入射到樣品上,，對(duì)于反射光的橢圓偏振光進(jìn)行測(cè)量。s波和p波的位相和振幅獨(dú)立變化,，可以得出比線性偏振光中兩種偏光的變換參數(shù),，即p波和S波的反射率的比tanψ相位差Δ。
| 型號(hào) | FE-5000S | FE-5000 |
|---|---|---|
| 測(cè)量樣品 | 反射測(cè)量樣品 | |
| 樣品尺寸 | 100×100毫米 | 200×200毫米 |
| 測(cè)量方法 | 旋轉(zhuǎn)分析儀方法*1 | |
| 測(cè)量膜厚范圍（ND） | 0.1納米- | |
| 入射（反射）的角度范圍 | 45至90° | 45至90° |
| 入射（反射）的角度驅(qū)動(dòng)方式 | 自動(dòng)標(biāo)志桿驅(qū)動(dòng)方法 | |
| 入射點(diǎn)直徑*2 | 關(guān)于φ2.0 | 關(guān)于φ1.2sup*3 |
| tanψ測(cè)量精度 | ±0.01以下 | |
| cosΔ測(cè)量精度 | ±0.01以下 | |
| 薄膜厚度的可重復(fù)性 | 0.01％以下*4 | |
| 測(cè)定波長(zhǎng)范圍*5 | 300至800納米 | 250至800納米 |
| 光譜檢測(cè)器 | 多色儀（PDA,，CCD） | |
| 測(cè)量用光源 | 高穩(wěn)定性氙燈*6 | |
| 平臺(tái)驅(qū)動(dòng)方式 | 手動(dòng) | 手動(dòng)/自動(dòng) |
| 裝載機(jī)兼容 | 不可 | 可 |
| 尺寸,，重量 | 650（W）×400（D）×560（H）mm 約50公斤 | 1300（W）×900（D）×1750（H）mm 約350公斤*7 |
| 軟件 | ||
| 分析 | 最小二乘薄膜分析（折射率模型函數(shù)，Cauchy色散方程模型方程,，nk-Cauchy色散模型分析等） 理論方程分析（體表面nk分析,，角度依賴同時(shí)分析） | |
*1可以驅(qū)動(dòng)偏振器，可以分離不感帶有效的位相板,。
*2取決于短軸?角度,。
*3對(duì)應(yīng)微小點(diǎn)（可選）
*4它是使用VLSI標(biāo)準(zhǔn)SiO2膜（100nm）時(shí)的值。
*5可以在此波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行選擇,。
*6光源因測(cè)量波長(zhǎng)而異,。
*7選擇自動(dòng)平臺(tái)時(shí)的值。
作為用于液晶顯示器等的透明電極材料ITO（氧化銦錫）,，在成膜后的退火處理（熱處理）可改善其導(dǎo)電性和色調(diào),。此時(shí)，氧氣狀態(tài)和結(jié)晶度也發(fā)生變化,，但是這種變化相對(duì)于膜的厚度是逐漸變化的,，不能將其視為具有光學(xué)均勻組成的單層膜,。
以下介紹對(duì)于這種類型的ITO，通過使用梯度模型,，從上界面和下界面的nk測(cè)量斜率,。
考慮到表面粗糙度測(cè)量膜厚度值[FE-0008]
當(dāng)樣品表面存在粗糙度（Roughness）時(shí)，將表面粗糙度和空氣（air）及膜厚材料以1：1的比例混合,模擬為“粗糙層",，可以分析粗糙度和膜厚度,。以下介紹了測(cè)量表面粗糙度為幾nm的SiN（氮化硅）的情況。
使用非干涉層模型測(cè)量封裝的有機(jī)EL材料[FE-0011]
有機(jī)EL材料易受氧氣和水分的影響,，并且在正常大氣條件下它們可能會(huì)發(fā)生變質(zhì)和損壞。因此,，在成膜后立即用玻璃密封,。以下介紹在密封狀態(tài)下通過玻璃測(cè)量膜厚度的情況。玻璃和中間空氣層使用非干涉層模型,。
使用多點(diǎn)相同分析測(cè)量未知的超薄nk[FE-0014]
為了通過擬合最小二乘法來分析膜厚度值（d）需要材料nk,。如果nk未知，則d和nk都被分析為可變參數(shù),。然而,，在d為100nm或更小的超薄膜的情況下，d和nk是無法分離的,，因此精度將降低并且將無法求出精確的d,。在這種情況下，測(cè)量不同d的多個(gè)樣本,，假設(shè)nk是相同的,，并進(jìn)行同時(shí)分析（多點(diǎn)相同分析），則可以高精度,、精確地求出nk和d,。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
5
化工儀器網(wǎng)