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多層膜厚解析
光學(xué)薄膜(超硬涂層、AR薄膜,、ITO等)
FPD相關(guān)(光刻膠,、SOI、SiO2等)
半導(dǎo)體晶圓的面內(nèi)分布測量
玻璃基板的面內(nèi)分布測量
實(shí)時測量
流向品質(zhì)管理
真空室適用
實(shí)時測量
寬度方向品質(zhì)管理
上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng),、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺,、激光器、Edmund 光學(xué)元件,、Newport 產(chǎn)品,、濱松光電探測器,、卓立漢光熒光拉曼光譜儀,、是德 Keysight 電學(xué)測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀,、鑫圖科研級相機(jī),、Semilab 半導(dǎo)體測試設(shè)備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展,,上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位,。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度,,客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力,,不斷提升市場地位和影響力,。
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