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目錄:上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>光譜系統(tǒng)>>顯微缺陷膜厚>> 嵌入式膜厚檢測儀

嵌入式膜厚檢測儀
  • 嵌入式膜厚檢測儀
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 型號
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時間:2025-01-23 11:46:25瀏覽次數(shù):341評價

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● 采用分光干涉法

● 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)(專zhuan利 第4834847號)

● 使用光學(xué)光纖,,可靈活構(gòu)筑測量系統(tǒng)

● 可嵌入至各種制造設(shè)備。

● 實(shí)時測量膜厚

● 可對應(yīng)遠(yuǎn)程操作,、多點(diǎn)測量

● 采用壽命長,、安全性高的白色LED光源

產(chǎn)品信息

測量項(xiàng)目

多層膜厚解析

用 途

光學(xué)薄膜(超硬涂層、AR薄膜,、ITO等)

FPD相關(guān)(光刻膠,、SOI、SiO2等)

設(shè)備構(gòu)成

單點(diǎn)型

嵌入式膜厚檢測儀

半導(dǎo)體晶圓的面內(nèi)分布測量

玻璃基板的面內(nèi)分布測量

多點(diǎn)型

嵌入式膜厚檢測儀

實(shí)時測量

流向品質(zhì)管理

真空室適用

導(dǎo)線型

嵌入式膜厚檢測儀

實(shí)時測量

寬度方向品質(zhì)管理

測量案例

超硬涂層的膜厚解析

嵌入式膜厚檢測儀







上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng),、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺,、激光器、Edmund 光學(xué)元件,、Newport 產(chǎn)品,、濱松光電探測器,、卓立漢光熒光拉曼光譜儀,、是德 Keysight 電學(xué)測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀,、鑫圖科研級相機(jī),、Semilab 半導(dǎo)體測試設(shè)備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展,,上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位,。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度,,客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力,,不斷提升市場地位和影響力,。


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