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參考價(jià)	面議

粒度表征

X光沉降粒度分析儀

micromeritics/麥克默

產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	石油,能源

新一代的全自動(dòng)Χ光沉降粒度分析儀 SediGraph III PLUS將成熟的SediGraph分析技術(shù)與檢測(cè)儀器功能相結(jié)合,，提供重復(fù)性,、準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性,。 SediGraph III PLUS通過X射線吸收測(cè)量樣品質(zhì)量,，利用標(biāo)準(zhǔn)的沉降法測(cè)量粒度,，無需建模,。該產(chǎn)品的技術(shù)已成為造紙,、陶瓷、磨料等數(shù)個(gè)行業(yè)的金色標(biāo)準(zhǔn),。

詳細(xì)介紹

SediGraph®Ⅲ Plus

全自動(dòng)X光沉降粒度分析儀

SediGraph全自動(dòng)Χ光沉降粒度分析儀使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物,。通過對(duì)X-射線的吸收測(cè)量可以直接檢測(cè)分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度。測(cè)定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降,，即可以運(yùn)用Stokes方程來計(jì)算顆粒的等效球直徑,。在這種情況下，報(bào)告中的粒徑就是與測(cè)試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑,。

• 儀器與配件報(bào)價(jià) • 產(chǎn)品培訓(xùn)

久經(jīng)考驗(yàn)的技術(shù)和可靠性

在過去的三十多年中,，麥克儀器公司的SediGraph是*許多實(shí)驗(yàn)室粒度分析的標(biāo)準(zhǔn)儀器,。無論是在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境還是在專業(yè)的化驗(yàn)室,，SediGraph憑借其可靠性得出測(cè)量結(jié)果,。粒徑分布的測(cè)量采用沉降法，顆粒通過直接吸收X射線而被測(cè)量,。根據(jù)Stockes定律,，通過測(cè)量粒子在液體中的沉降速率，得出粒子粒徑大小,，粒徑分析范圍為0.1~300μm,。

產(chǎn)品應(yīng)用
軟件和數(shù)據(jù)報(bào)告
應(yīng)用筆記、文獻(xiàn)和參考目
ASTM 方法

智能設(shè)計(jì)特色

SediGraph III Plus 粒度分析儀設(shè)計(jì)確保了測(cè)量的重復(fù)性和使用的便利性,。使得儀器操作更加容易,，日常維護(hù)更加簡(jiǎn)單。并且能夠確保對(duì)同一樣品,，在任意一臺(tái)SediGraph儀器上都能獲得重復(fù)性的結(jié)果,。

• 簡(jiǎn)化泵系統(tǒng)，確?？焖俜治龊鸵子诰S護(hù)

• 降低噪聲,，提供更加安靜的工作環(huán)境

• 維護(hù)提醒裝置，根據(jù)總測(cè)試量,，提示用戶進(jìn)行定期維護(hù)

• 電腦控制混合室溫度,，提高測(cè)試可重復(fù)性

• Windows操作軟件，以太網(wǎng)連接,，可進(jìn)行點(diǎn)擊式選擇菜單,，聯(lián)網(wǎng)工作，打印機(jī)選擇,，剪切和粘貼等操作

• 多功能和交互式報(bào)告系統(tǒng),，能夠提供多種類型的報(bào)告，例如顆粒沉降速度和粒度（以Phi為單位）

全自動(dòng)Χ光沉降粒度分析儀多項(xiàng)功能

完整的顆粒分析,，能夠確保對(duì)樣品中的所有顆粒全部進(jìn)行分析,，包括粒徑大于 300μm和小于0.1μm的部分
能夠與其他粒徑測(cè)得的數(shù)據(jù)相結(jié)合,，使數(shù)據(jù)報(bào)告范圍可擴(kuò)展至125,000μm (125mm)，在地質(zhì)學(xué)方面具有很好的應(yīng)用
自下而上地掃描沉降室,，能夠準(zhǔn)確的獲取沉降顆粒的總數(shù),，同時(shí)特小化顆粒分離所需的時(shí)間
全自動(dòng)操作模式能夠增加分析樣品總數(shù)，并且能夠減少人為操作步驟,，以降低由人為操作造成的測(cè)量誤差
控溫分析可確保在整個(gè)分析過程中液體的性質(zhì)不發(fā)生任何變化,，以獲取分析結(jié)果
多種分析速度，可根據(jù)實(shí)際需要選擇所需的速度和分辨率

實(shí)時(shí)顯示,，能夠監(jiān)控當(dāng)前分析的累積質(zhì)量圖,，以便根據(jù)需求立即修正分析程序
統(tǒng)計(jì)過程控制（SPC）報(bào)告能夠跟蹤過程性能，便于立即對(duì)變化做出響應(yīng)
多圖疊加功能,，能夠?qū)Ψ治鼋Y(jié)果進(jìn)行可視化比較，例如：與參考樣品或基線疊加,，或者將同一分析數(shù)據(jù)的兩種不同類型結(jié)果圖疊加
數(shù)據(jù)比較圖,，能夠提供兩套數(shù)據(jù)組（不同于參考圖）圖形顯示的數(shù)學(xué)差或某個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)高于/低于誤差范圍的程度（圖以外）
能夠使用同一臺(tái)計(jì)算機(jī)同時(shí)控制兩SediGraph，節(jié)約寶貴的實(shí)驗(yàn)室空間,，方便數(shù)據(jù)存儲(chǔ)