X射線熒光光譜分析儀可以對各種樣品的元素組成進(jìn)行定量分析,，包括壓片,、融珠、粉末液體,、甚至是龐大的樣品,。它使用一種高功率X射線管達(dá)到了檢測限低和測量時(shí)間短的效果。具有重現(xiàn)性好,，測量速度快,，靈敏度高的特點(diǎn)。
X射線熒光光譜分析儀物理原理
當(dāng)材料暴露在短波長X光檢查,，或伽馬射線,，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢,，足以驅(qū)逐內(nèi)層軌道的電子,，然而這使原子的電子結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定，在外軌道的電子會“回補(bǔ)”進(jìn)入低軌道,，以下來的洞,。在“回補(bǔ)”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個(gè)軌道的能量差異的。因此,，物質(zhì)放射出的輻射,，這是原子的能量特性。廣泛應(yīng)用于機(jī)械加工,、鋼鐵貿(mào)易,、船舶制造、工程公司,、冶金等企業(yè)中,。
X射線熒光光譜分析儀由激發(fā)系統(tǒng)、分光系統(tǒng)以及儀器控制和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成,，具有的高靈敏度與寬動(dòng)態(tài)范圍的特性使其成為了同等級中性能高的微型光譜儀,。其高的性能可以大大提高吸光度、反射率,、熒光與拉曼檢測的度,。
激發(fā)系統(tǒng),，主要部件為X射線管,，可以發(fā)出原級X射線（一次X射線），用于照射樣品激發(fā)熒光X射線,；
分光系統(tǒng),，對來自樣品待測元素發(fā)出的特征熒光X射線進(jìn)行分辨（主要為分光晶體）；探測系統(tǒng),，對樣品待測元素的特征熒光X射線進(jìn)行強(qiáng)度探測,；
儀器控制和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，處理探測器信號,，給出分析結(jié)果,。
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