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電容充放電測(cè)試儀,，詳細(xì)說(shuō)明：目前常規(guī)電滯回線測(cè)試設(shè)備在高壓下測(cè)量電容能量密度存在的問(wèn)題：待測(cè)樣品上的電荷被放回到高壓電源，而不是一個(gè)有效有意義的負(fù)載,。

詳細(xì)介紹

電容充放電測(cè)試儀

問(wèn)題主要表現(xiàn)為：
1）對(duì)電源放電時(shí)速度很慢(10-100毫秒),，而實(shí)際上對(duì)負(fù)載放電一般在微秒到毫秒；
2）對(duì)電源放電時(shí)待測(cè)電壓線形下降, 而對(duì)負(fù)載放電時(shí)電壓是指數(shù)下降,；
3）電滯回線測(cè)量過(guò)程中程序控制的實(shí)際是電源輸出電壓（假設(shè)樣品電壓與電源電壓一樣）,，樣品能量放回到了高壓電源；
4）對(duì)負(fù)載放電時(shí)如同自由落體,，電壓*由樣品性能,，負(fù)載（阻抗），與其中接線而定,?？梢赃x擇一個(gè)與應(yīng)用相似的負(fù)載（成比例縮小）從而測(cè)得一個(gè)與應(yīng)用相關(guān)的能量密度,；
5）一般情況下由電滯回線測(cè)得的能量密度大于電容實(shí)際應(yīng)用時(shí)能放出的能量密度,，可能會(huì)誤導(dǎo)用戶；

為了更好的解決以上存在的實(shí)際測(cè)試問(wèn)題,，PolyK公司開發(fā)了該測(cè)試儀器,，主要用于研究電容的高電壓放電性能，根據(jù)所選型號(hào),，電容樣品可以在100皮法到100微法,。

電容充放電測(cè)試儀

主要特點(diǎn)：

1）本測(cè)試儀使用特殊高壓開關(guān)，分別控制充放電過(guò)程,，其中放電開關(guān)速度快,，相應(yīng)速度在納秒量級(jí),；
2）使用高壓無(wú)感電阻作為放電負(fù)載，放出的能量有示波器采集,，并經(jīng)過(guò)程序分析直接給出放電能量密度,；
3）兩種操作模式:
-手動(dòng)控制：用戶手動(dòng)控制充放電開關(guān)；
-自動(dòng)控制：計(jì)算機(jī)程序自動(dòng)控制測(cè)試過(guò)程,，并保存測(cè)試結(jié)果,。尤其適合長(zhǎng)期充放電壽命測(cè)試,；

主要規(guī)格：
1）測(cè)試電壓: 10 kV (由所選高壓開關(guān)決定),；
2）樣品電容: < 100 pF to > 100 μF；
3）放電大電流: < 15 A（放電開關(guān)型號(hào)決定）,；
4）放電電阻: < 1Ω to > 1 MΩ,；
5）放電速度: 高壓MOSFET 開關(guān), 放電速度< 100納秒；
6）測(cè)試電流與電壓所用電源,，樣品大小與放電電阻綜合決定,；
7）設(shè)備選項(xiàng)：測(cè)試溫度可以保存；

新加功能：
1）測(cè)試介電壓電材料的介電擊穿強(qiáng)度：直流電擊穿,，在恒定直流電壓擊穿時(shí)間（耐壓時(shí)間）,，交流擊穿強(qiáng)度，在恒定交流電壓擊穿時(shí)間（耐壓時(shí)間）,；
2）能同時(shí)測(cè)試放電電流（在一定電流范圍內(nèi)）,；
3）內(nèi)置示波器；
4）許使用特定的電感/電阻組合,，研究放電震蕩,；
5）允許反向電壓/電流；
6）提供軟硬件使得用戶可以極化壓電材料,；
7）測(cè)試夾具,；
8）定制低壓充放電測(cè)試薄膜樣品（100伏）；

電容充放電測(cè)試儀

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