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6NANYTE BEAM臺式無掩模光刻機/
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激光光束分析儀是用于測量激光光束直徑、形
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NANYTE BEAM臺式無掩模光刻機/
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激光光束分析儀是用于測量激光光束直徑、形
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激光光束分析儀是用于測量激光光束直徑,、形
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日本進口大面積LED太陽光模擬器,，有效光
技術(shù)文章
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主要內(nèi)容全鈣鈦礦疊層太陽能電池在突破單結(jié)太陽能電池的Shockley-Queisser極限方面顯示出潛力。然而,，窄帶隙Sn-Pb混合鈣鈦礦薄膜表面缺陷導(dǎo)致的非輻射復(fù)合損失在很大程度上阻礙了全鈣鈦礦疊層...2024/8/29查看全文
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主要內(nèi)容準2D鈣鈦礦擁有優(yōu)異的環(huán)境穩(wěn)定性,，因為它可以防止水分和氧氣滲透,，并由于疏水的大有機陽離子而形成離子空位屏障，且有機會提高太陽能電池的穩(wěn)定性,。然而,，由于量子阱分布,、晶體取向和載流子遷移率低等原因...2024/8/28查看全文
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光纖太陽光模擬器可搭載測試儀表及測試夾具等設(shè)備可以用來測試光伏器件(包括各種太陽電池)的電性能,，如Pmax，lmax,，Vmax等以及I-V曲線等,。該設(shè)備也可應(yīng)用于光催化、光敏材料,、光電材料,、光電器件、...2024/8/6查看全文
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主要內(nèi)容頂部發(fā)射可以提高發(fā)光顯示器的亮度,、色彩純度和面板制造兼容性。然而,，頂發(fā)射量子點發(fā)光二極管(QLEDs)存在穩(wěn)定性差,、光輸出耦合低和不可忽略的角度依賴性等問題，因為對于非紅發(fā)射的QLEDs來說,，...2024/7/25查看全文
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主要內(nèi)容試錯法對于找到限制鈣鈦礦太陽能電池效率的因素具有實用性,，但這種方法較為復(fù)雜。除此之外還有另一種選擇,，即機器學(xué)習(xí)與漂移擴散模擬相結(jié)合,。在這篇文章中，研究團隊開發(fā)了一種機器學(xué)習(xí)模型,，提出機器學(xué)習(xí)(...2024/7/12查看全文
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電卡效應(yīng)測試儀是一款直接法測試材料電卡效應(yīng)的設(shè)備,。在介電材料中，因外電場的作用而導(dǎo)致偶極子極化狀態(tài)發(fā)生改變，進而產(chǎn)生自身溫度的變化,。由于電卡效應(yīng)直接與極化強度的變化相關(guān),，因而強極性的鐵電材料能產(chǎn)生較大...2024/7/9查看全文
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高溫介電測試系統(tǒng)是一種能夠在高溫條件下對材料的介電性能進行測試與分析的儀器。它結(jié)合了高溫恒溫器與介電橋等關(guān)鍵技術(shù),，通過測試電容與電感在不同溫度下的變化,，來確定高溫下介電性質(zhì)的變化規(guī)律。該設(shè)備是科研實驗...2024/6/18查看全文
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電卡效應(yīng)測試原理主要涉及在極性電介質(zhì)材料中,，由于外電場改變引起的極化狀態(tài)改變而產(chǎn)生的絕熱溫變和等溫熵變,。具體來說，當(dāng)對極性材料施加電場時,，材料中的電偶極子從無序狀態(tài)變?yōu)橛行驙顟B(tài),，這導(dǎo)致材料的熵減小。在...2024/5/23查看全文
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壓電系數(shù)測試儀是為測量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計的儀器，壓電效應(yīng)是指某些晶體或陶瓷在受到外力作用時,，會產(chǎn)生電荷的現(xiàn)象,。而d33壓電系數(shù)就是用來描述材料受到力作用時，產(chǎn)生電荷的程度的指標,。壓電系數(shù)測試儀...2024/5/14查看全文
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在硅片等基板上附膜時,，由于基板和薄膜的物理定數(shù)有異，產(chǎn)生應(yīng)力,，進而引起基板變形,。由涂抹均勻的薄膜引起的變形的表現(xiàn)為基板的翹曲，而薄膜應(yīng)力測量系統(tǒng)可從這個翹曲(曲率半徑)的變化量測量其應(yīng)力,。薄膜應(yīng)力測量...2024/4/25查看全文