零位穩(wěn)定：所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位,，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提,。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后,，可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移，確保準(zhǔn)確測(cè)量,。

無(wú)需校準(zhǔn)：多數(shù)涂層測(cè)厚儀除了校零外,，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度,，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校,。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣,，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效,，增大系統(tǒng)誤差。尼克斯涂層測(cè)厚儀可以滿足全量程范圍內(nèi)數(shù)值準(zhǔn)確

溫度補(bǔ)償：涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大,。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù),，以保證不同溫度下的測(cè)量精度,。

紅寶石探頭：探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。普通金屬接觸探頭,，其表面磨損后會(huì)帶來(lái)很大的誤差,。

*的直流采樣技術(shù)：使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的*和提高。

標(biāo)準(zhǔn)：符合ISO 2178,2360,2808及ASTM B 499,D7091標(biāo)準(zhǔn)

 QNix®4200可測(cè)量磁性金屬表面非磁性涂鍍層厚度（Fe）,。

（其中QNix®4200P,、QNix®4200P5、采用有線分體型設(shè)計(jì)，測(cè)量方便,、穩(wěn)定,、準(zhǔn)確，探頭連接線堅(jiān)固耐用,，還可滿足一些狹小空間的測(cè)量,。探頭線和探頭可更換）

 三、技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量范圍

Fe：0-3000或0-5000μm

顯示范圍

0-99.9μm：0.1μm

100-999μm：1μm

≥1mm：0.01mm

精度

±（2+3%）μm≤2000μm

±（2+5%）μm＞2000μm

小測(cè)量面積

Fe：10×10mm²,，NFe：6×6mm²

小曲率半徑

凸半徑：5mm,，凹半徑：25mm

基體

Fe：0.2mm，NFe：0.05mm

測(cè)量溫度范圍

-10℃-60℃

溫度補(bǔ)償范圍

0℃-50℃

分體型連接線長(zhǎng)度

1m

電源

2×1.5V AA堿性電池

尺寸

100×60×27mm

重量（含電池）

一體型：105g,，分體型：14