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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品/農(nóng)產(chǎn)品,能源,電子/電池 | 自動化度 | 全自動 |
| 真空吸附卡盤 | 可選4" |
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
奕葉探針臺EB系列
一,、顯微鏡操控規(guī)格
l 顯微鏡后側(cè)有X/Y軸調(diào)節(jié)小搖輪，可調(diào)節(jié)顯微鏡在x-y方向的移動,，移動范圍2"X2",，精度1μm。
l 顯微鏡Z軸帶有調(diào)焦粗旋鈕和細(xì)旋鈕,，粗旋鈕方便快速調(diào)焦,，細(xì)旋鈕方便調(diào)焦，使顯微鏡在Z軸方向行程50.8mm,，移動精度10μm,。
二、臺面規(guī)格
l 探針臺臺面平整度：5μm,。
l 探針臺臺面為固定臺面,。
三、卡盤（載物臺,，即圖中的chuck）規(guī)格
l 6" 卡盤,，卡盤平整度：5μm，采用真空吸附方式吸附,，帶真空吸附孔,，中心孔徑 250μm-1mm（可根據(jù)客戶需求定制孔徑大小）,，小可以吸住尺寸為0.3mmX0.3mm,，能夠吸住尺寸為6"X6"。
l 卡盤可360度旋轉(zhuǎn),，旋轉(zhuǎn)角度可微調(diào),，微調(diào)精度為0.1度,，帶角度鎖定旋鈕。
l 卡盤座有小搖桿,，提起90度后，可以使卡盤快速線性上升4mm,，在做wafer點測時方便快速移動點測位置,，同時做普通die或者decap后芯片點測時，方便快速更換樣品,。
l 卡盤X,，Y軸調(diào)節(jié)旋鈕可以控制卡盤做X-Y方向的移動，移動范圍為6"X6",，移動精度為10μm,，為方便點測的穩(wěn)定性，帶有鎖住功能如果點測6"wafer的時候,，可以6"wafer的每一點都能夠點測到,。
四、性能
l 真空吸附卡盤：對應(yīng)可選4" 產(chǎn)品
l 卡盤X-Y方向線性移動行程：6"-6"
l 線性無回差調(diào)節(jié)
l 卡盤上/下移動行程：4mm
l 4", 6", 8", 12" 晶圓 (晶圓尺寸)
l 樣品尺寸: 5x5mm ~ 4" 6", 8", 12"
l 卡盤平整度: 10um
l 卡盤旋轉(zhuǎn)角度：0~360°
五,、附件
l 顯微鏡傾仰裝置
l 鍍金卡盤
l 射頻測試探頭/電纜
l 有源探頭
l 低電流/電容測試
l 高壓測試
l 激光修復(fù)
l CCD/數(shù)字相機,，USB接口
l 探針卡/封裝/PCB板夾具
l 加熱裝置
l 防震桌
l 屏蔽箱