目錄:北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司>>電壓擊穿試驗(yàn)儀>>電氣強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī) >> BDJC-50KV電氣強(qiáng)度/擊穿強(qiáng)度測(cè)試設(shè)備
參考價(jià) | ¥ 38000 |
訂貨量 | ≥1臺(tái) |
¥38000 |
≥1臺(tái) |
更新時(shí)間:2024-07-17 14:27:27瀏覽次數(shù):853評(píng)價(jià)
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,,謝謝!
擊穿電壓 | 50KV | 價(jià)格區(qū)間 | 2萬-5萬 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,電氣 |
電氣強(qiáng)度/擊穿強(qiáng)度測(cè)試設(shè)備
輸入電壓 | 220V 50HZ | ||||
電壓測(cè)量范圍 | 交/直流0-20KV | 交/直流0-50KV | 交/直流0-100KV | 交/直流0-150KV | |
電器容量(功率) | 2KVA | 3KVA | 10KVA | 15KVA | |
過流保護(hù) | 1-30mA可由計(jì)算機(jī)軟件自由設(shè)定 | ||||
升壓速率 | 0.1KV/S-3KV/S不分檔可調(diào) | 0.5KV/S-5KV/S不分檔可調(diào) | |||
可試驗(yàn)方式 | 交/直流試驗(yàn):1,、勻速升壓 2,、階梯升壓 3、耐壓試驗(yàn) | ||||
交直流電壓測(cè)量誤差 | 1%≤(10~100)% |
電氣強(qiáng)度/擊穿強(qiáng)度測(cè)試設(shè)備
電擊穿
電擊穿是因電場(chǎng)使電介質(zhì)中積聚起足夠數(shù)量和能量的帶電質(zhì)點(diǎn)而導(dǎo)致電介質(zhì)失去絕緣性能,。熱擊穿是因在電場(chǎng)作用下,,電介質(zhì)內(nèi)部熱量積累、溫度過高而導(dǎo)致失去絕緣能力,。電化學(xué)擊穿是在電場(chǎng),、溫度等因素作用下,電介質(zhì)發(fā)生緩慢的化學(xué)變化,,性能逐漸劣化,,最終喪失絕緣能力,。固體電介質(zhì)的化學(xué)變化通常使其電導(dǎo)增加,這會(huì)使介質(zhì)的溫度上升,,因而電化學(xué)擊穿的最終形式是熱擊穿,。溫度和電壓作用時(shí)間對(duì)電擊穿的影響小,對(duì)熱擊穿和電化學(xué)擊穿的影響大,;電場(chǎng)局部不均勻性對(duì)熱擊穿的影響小,,對(duì)其他兩種影響大。
熱擊穿
當(dāng)固體電介質(zhì)承受電壓作用時(shí),,介質(zhì)損耗是電介質(zhì)發(fā)熱,、溫度升高;而電介質(zhì)的電阻具有負(fù)溫度系數(shù),,所以電流進(jìn)一步增大,,損耗發(fā)熱也隨之增加。電介質(zhì)的熱擊穿是由電介質(zhì)內(nèi)部的熱不平衡過程造成的,。如果發(fā)熱量大于散熱量,,電介質(zhì)溫度就會(huì)不斷上升,形成惡性循環(huán),,引起電介質(zhì)分解,、炭化等,電氣強(qiáng)度下降,,最終導(dǎo)致?lián)舸?/p>
熱擊穿的特點(diǎn)是:擊穿電壓隨溫度的升高而下降,,擊穿電壓與散熱條件有關(guān),如電介質(zhì)厚度大,,則散熱困難,,因此擊穿電壓并不隨電介質(zhì)厚度成正比增加;當(dāng)外施電壓頻率增高時(shí),,擊穿電壓將下降,。
電化學(xué)擊穿
固體電介質(zhì)受到電、熱,、化學(xué)和機(jī)械力的長(zhǎng)期作用時(shí),,其物理和化學(xué)性能會(huì)發(fā)生不可逆的老化,擊穿電壓逐漸下降,,長(zhǎng)時(shí)間擊穿電壓常常只有短時(shí)擊穿電壓的幾分之一,,這種絕緣擊穿成為電化學(xué)擊穿。當(dāng)加在某絕緣介質(zhì)上的電壓高于過一定程度(擊穿電壓)后,,這時(shí)絕緣介質(zhì)會(huì)發(fā)生突崩潰而使其電阻迅速下降,,繼而使得一部分絕緣介質(zhì)變?yōu)閷?dǎo)體。在有效的擊穿電壓下,,電擊穿現(xiàn)象可以發(fā)生在固體,、流體,、氣體或者真空等不同的介質(zhì)中。
電樹枝(預(yù)擊穿)
在電氣工程中,,樹化是固體絕緣中的一種電氣預(yù)擊穿現(xiàn)象,。這是由于局部放電而造成的破壞性過程,并通過受應(yīng)力的介電絕緣層,,在類似于樹枝的路徑中進(jìn)行,。固體高壓電纜絕緣的樹化是地下電力電纜中常見的擊穿機(jī)制和電氣故障來源。當(dāng)干介電材料在很長(zhǎng)一段時(shí)間內(nèi)受到高且發(fā)散的電場(chǎng)應(yīng)力時(shí),,首先發(fā)生并傳播電樹,。觀察到電樹化起源于雜質(zhì)、氣孔,、機(jī)械缺陷或?qū)щ娡黄鹪陔娊橘|(zhì)的小區(qū)域內(nèi)引起過度電場(chǎng)應(yīng)力的點(diǎn),。這可以使體電介質(zhì)內(nèi)的空隙內(nèi)的氣體電離,從而在空隙的壁之間產(chǎn)生小的放電,。雜質(zhì)或缺陷甚至可能導(dǎo)致固體電介質(zhì)本身的部分擊穿,。這些局部放電(PD)產(chǎn)生的紫外線和臭氧隨后與附近的電介質(zhì)發(fā)生反應(yīng),分解并進(jìn)一步降低其絕緣能力,。隨著電介質(zhì)的降解,,氣體通常會(huì)釋放出來,從而產(chǎn)生新的空隙和裂縫,。這些缺陷進(jìn)一步削弱了材料的介電強(qiáng)度,,增強(qiáng)了電應(yīng)力,加速了PD過程,。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)