聚合物材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀被測(cè)材料有:
高分子復(fù)合材料、絕緣漆、尼龍制品材料,、硅橡膠、硫化橡膠,、橡膠,、塑料、聚酯薄膜,、聚四氟乙烯,、環(huán)氧樹(shù)脂,、電纜料、納米材料,、導(dǎo)熱材料,、硅膠片、絕緣材料,、光伏材料,、塑膠原料、高分析材料,、功能膜材料,、塑料制品、絕緣軟管,、熱塑性塑料材料,、板材和片狀材料、絕緣紙,、軟管和軟套管,、廣電新材料、聚合物材料,、涂料涂層,、纖維制品、PVA/PP/PE,、通用塑料,、工程塑料、塑料助劑,、填充母料,、塑料機(jī)械、塑料制品,、天然橡膠,、其他化工、合成橡膠,、橡膠助劑,、骨架材料、復(fù)材制品,、橡膠機(jī)械,、橡膠制品、天然纖維,、通用分析儀,、人造纖維、合成纖維、特種纖維,、物性測(cè)試儀,、纖維助劑、基體樹(shù)脂,、增強(qiáng)材料,、行業(yè)專用儀、原材料類,、膠粘劑類,、化學(xué)試劑、混合設(shè)備,、無(wú)機(jī)原料,、有機(jī)原料、聚乙烯,、分離設(shè)備,、原材料類,、膠粘劑類,、化學(xué)試劑、反應(yīng)設(shè)備,、無(wú)機(jī)原料,、有機(jī)原料、聚乙烯,、成型設(shè)備,、聚丙烯、涂料類,、油墨類,、彈性體。
聚合物材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀1.Q值測(cè)量
a.Q值測(cè)量范圍:2~1023,;
b.Q值量程分檔:30,、100、300,、1000,、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔;
c.標(biāo)稱誤差
1,、范圍:
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的兩種測(cè)定方法,。方法A為工頻(50Hz)下的測(cè)定方法,方法B為高頻電場(chǎng)下的測(cè)定方法,。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于硫化橡膠,。
2、規(guī)范性引用文件:
下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,,其隨后所有的修(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的新版本,。凡是不注日期的引用文件,,其新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T 2941 橡膠物理試驗(yàn)方法試樣制備和調(diào)節(jié)通用程序(GB/T 2941-2006,,ISO 23529:2004,,IDT)
3、術(shù)語(yǔ)和定義:
下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn),。
3.1
介質(zhì)損耗 dielectric loss
絕緣材料在電場(chǎng)作用下,,由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng),在其內(nèi)部引起的能量損耗,。
3.2
損耗角 δloss angleδ
在交變電場(chǎng)下,,電介質(zhì)內(nèi)流過(guò)的電流向量和電壓向量之間的夾角(功率因數(shù)角φ)的余角(δ)。
3.3
損耗角正切 tanδ loss tangentδ
介質(zhì)損耗因數(shù) dielectric loss factor
介質(zhì)損耗角正切值,。
3.4
介電常數(shù) εdielectric constant
絕緣材料在電場(chǎng)作用下產(chǎn)生極化,,電容器極板間有電介質(zhì)存在時(shí)的電容量C、與同樣形狀和尺寸的真空電容量C0之比,。
注:不同試樣,、不同電極的真空電容和邊緣校正的計(jì)算參見(jiàn)附錄A。
4,、測(cè)試電極:
4.1 電極材料
見(jiàn)表1,。
表 1 電極材料
電極材料 | 規(guī)格要求 | 適應(yīng)范圍 |
鋁箔和錫箔 | 鋁箔和錫箔應(yīng)退火,厚度為0.01mm左右,,用凡士林,、變壓器油、硅油或其他合適油作為粘接劑 | 接觸電極用 |
導(dǎo)電橡膠 | 體積電阻系數(shù)不大于300Ω·cm(交流),,邵爾A硬度為40~60,,表面應(yīng)光滑 | 接觸電極用 |
銅 | 表面可鍍防腐蝕的金屬層,但鍍層應(yīng)均勻*,,工作面粗糙度Ra值應(yīng)不低于3.2 | 一般做輔助電極用,,對(duì)軟質(zhì)膠可直接作接觸電極用 |
導(dǎo)電粉末 | 石墨粉,銀粉,,銅粉等 | 管狀試樣內(nèi)電極用 |
4.2 電極尺寸
4.2.1 板狀試樣電極
4.2.1.1 方法A:板狀電極尺寸見(jiàn)表2,,電極如圖1所示。
表 2 板狀試樣電極尺寸 單位為毫米
D1 | D2 | D3 | D4 | H1 | H2 |
25.0±0.1 | 29.0±0.1 | 40 | ≥40 | 30 | 5 |
50.0±0.1 | 54.0±0.1 | 74 | ≥74 |
——保護(hù)電源,;——試樣,;——高壓電極。
圖 1 板狀試樣電極配置(工頻)
4.2.1.2 方法B:采用二電極系統(tǒng)。電極尺寸大小與試樣尺寸相等,,或電極小于試樣尺寸,。板狀試樣電極直徑為φ38.0mm±0.1mm、φ50.0mm±0.1mm,、φ70.0mm±0.1mm,。
4.2.2 管狀試樣電極
4.2.2.1 方法A:管狀試樣電極尺寸見(jiàn)表3,電極如圖2所示,。
表 3 管狀試樣電極尺寸
L1 | L2 | L3 | g |
25 | 5 | ≥40 | 2.0±0.1 |
50 | 10 | ≥74 |
1——保護(hù)電極,;
2——測(cè)量電極;
3——高壓電極,;
4——試樣,。
1——上蓋螺釘;
2——上蓋板,;
3——升降螺桿,;
4——上電極導(dǎo)軌;
5——螺帽,;
6——導(dǎo)筒,;
7——導(dǎo)槽螺釘;
8——絕緣桿,;
9——高壓電極,;
10——試樣,;
11——測(cè)量電極,;
12——保護(hù)電極;
13——絕緣板(聚四氟乙烯板),;
14——絕緣支腳,;
15——有機(jī)玻璃板。
1——微調(diào)管形電容器,;
2——測(cè)試樣品電容器,;
3——上支撐板;
4——上電極,;
5——試樣,;
6——下電極;
7——底板,。
5,、測(cè)試儀器:
5.1 方法A
5.1.1 測(cè)試儀器為工頻高壓電橋,其原理圖如圖6所示,。
T 試驗(yàn)變壓器,;
C3 標(biāo)準(zhǔn)電容器;
C5 試樣;
R3 可變電阻,;
C2,、C 可變電容;
R4 固定電阻,;
G- 電橋平衡指示器,;
P 放電器。
圖 6 工頻高壓電橋原理圖
5.1.2 測(cè)量范圍
損耗角正切(tanδ):0.001~1,;電容(C):40pF~2000pF,。
5.1.3 電橋測(cè)量誤差
測(cè)量時(shí)誤差不超過(guò)10%,當(dāng)試樣tanδ小于0.001時(shí)測(cè)量誤差不超過(guò)0.0001,,電容的測(cè)量誤差不超過(guò)5%,,標(biāo)準(zhǔn)電容器的tanδ應(yīng)小于0.0001。
5.1.4 電橋必須有良好的屏蔽接地裝置,。
5.2 方法B
5.2.1 方法B的測(cè)試儀器有兩種:一種是諧振升高法(Q表),,另一種時(shí)變電鈉法。
5.2.1.1 諧振升高法(Q表)
Q表原理圖
5.2.1.1.1 測(cè)量范圍
頻率為50Hz~50MHz,,電容40pF~500pF,,Q值10~600。
5.2.1.1.2 測(cè)量誤差
電容誤差:±(0.5%C+0.1pF),,Q值±10%,;有關(guān)儀器的測(cè)量誤差均為±10%。
5.2.1.2 變電鈉法
其測(cè)試原理如圖8所示,。
C——可調(diào)電容,;
L——諧振線圈;
CT——管形微調(diào)電容,;
Cu——主電容,;
Cx——試樣。
高頻介質(zhì)損耗儀原理圖
6,、試樣:
6.1 試樣尺寸
6.1.1 方法A試樣尺寸見(jiàn)表4,。
試樣的制備應(yīng)符合GB/T 2941的規(guī)定,也可以在符合試樣厚度尺寸的膠板上用旋轉(zhuǎn)刀進(jìn)行裁切,,制樣方法的不同,,其試驗(yàn)結(jié)果無(wú)可比性。
6.3 試樣數(shù)量
試樣的數(shù)量不少于3個(gè),。
7,、硫化與試驗(yàn)之間的時(shí)間間隔:
試樣在硫化與試驗(yàn)之間的時(shí)間間隔按GB/T2941的規(guī)定執(zhí)行。
8,、試驗(yàn)條件:
8.1 試樣表面應(yīng)清潔,、平滑,,無(wú)裂紋、氣泡和雜質(zhì)等,,試樣表面應(yīng)用蘸有無(wú)水乙醇的布擦洗,。
8.2 試樣應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室溫度及濕度下至少調(diào)節(jié)24h。
8.3當(dāng)試樣處理有特殊要求時(shí),,可按其產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的進(jìn)行,。
9、試驗(yàn)步驟:
9.1 方法A
9.1.1 試驗(yàn)電壓為1000V~3000V,,一般情況下為1000V,,電源頻率為50Hz。
9.1.2 按設(shè)備說(shuō)明書正確的連接,。
9.1.3 接通電源預(yù)熱30min,。
9.1.4 將試樣接人電橋C、的橋臂中,,加上試驗(yàn)電壓,,根據(jù)電橋使用方法進(jìn)行平衡,讀取R3和tanδ或C的值,。
9.2 方法B—諧振升高法(Q表法)
9.2.1 按照Q表的操作規(guī)程調(diào)整儀器,,選定測(cè)量頻率,測(cè)定C1和Q1的值,。
9.2.2 將試樣放入測(cè)試電極中,,并調(diào)節(jié)電容器C,使電路諧振,,達(dá)到最大Q值記下調(diào)諧電容量C2和Q2的值,。
9.2.3 將試樣從測(cè)試電極中取出,調(diào)節(jié)C或測(cè)試電極的距離,,使電路重新諧振,,記下C,、或測(cè)試電極的校正電容值與Q值,,并根據(jù)測(cè)試值計(jì)算出損耗角tanδ與介電常數(shù)ε。
9.2.4 其他高頻測(cè)試儀器按其說(shuō)明書進(jìn)行操作,,通過(guò)測(cè)試值計(jì)算出損耗角tanδ和介電常數(shù)ε,。
10、試驗(yàn)結(jié)果:
10.1 方法A
10.1.1 介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)可在電橋上直接讀數(shù),,按式(1)進(jìn)行計(jì)算:
tanδ=2πfR4C×10-6 (1)
式中:
π——3.14,;
f——頻率50Hz;
R4——固定電阻阻值,,單位為歐姆(Ω),;
C——可變電容值,,單位為微法(μF);
10.1.2 介電常數(shù)(ε)的計(jì)算見(jiàn)表6,。
10.2 方法B
10.2.1 電容的計(jì)算
10.2.1.1 諧振升高法
應(yīng)用支架電極時(shí)按式(7)計(jì)算:
Cx=C1-C2+Ca (7)
應(yīng)用測(cè)微電極時(shí)按式(8)計(jì)算:
Cx=C’1-C’2+Ca (8)
10.2.1.2 變電納法(配用測(cè)微電極):
按式(9),、式(10)計(jì)算:
Cx=C1-C2+Ca (9)
當(dāng)電極直徑為38mm時(shí),則Ca=1/d
式中:
Cx——試樣的并聯(lián)等值電容,,單位為皮法(pF),;
C1——電極間距為試樣厚度d,且無(wú)試樣時(shí)諧振電容量,,單位為皮法(pF),;
C2——有試樣時(shí)諧振電容量,單位為皮法(pF),;
C'1——極的校正電容值,,單位為皮法(pF);
C'——有試樣時(shí),,測(cè)微電極間距等于試樣厚度時(shí),,測(cè)微電極的校正電容值,單位為皮法(pF),;
C——試樣的幾何電容量,,單位為皮法(pF);
S——電極面積單位為平方厘米(cm2),;
d——試樣厚度,,單位為厘米(cm)。
10.2.2 介電常數(shù)ε的計(jì)算
式中:
Cx——試樣的并聯(lián)等值電容,,單位為皮法(pF),;
d——試樣的厚度,單位為厘米(cm),;
D——電極的直徑,,單位為厘米(cm)。
10.2.3介質(zhì)損耗角正切tanδ值的計(jì)算
10.2.3.1諧振升高法(Q表法)按式(12)計(jì)算:
10.2.3.2 變電納法:各種高頻損耗測(cè)試儀配用測(cè)微電極使用時(shí)按式(I3)計(jì)算:
式中:
C’——無(wú)電極時(shí),,諧振回路標(biāo)準(zhǔn)電容器指示值單位為皮法(pF),;
Q1——無(wú)試樣時(shí),電極間距為d時(shí),,諧振Q值,;
Q2——電極間有試樣時(shí)的諧振Q值;
△Ci—有試樣時(shí)兩次衰減至諧振峰0.707時(shí),,微調(diào)電容變化量,,單位為皮法(pF);
△C0——無(wú)試樣時(shí)兩次衰減至諧振峰0.707時(shí),,微調(diào)電容變化量,,單位為皮法(pF),;
Cx——試樣的并聯(lián)等值電容,單位為皮法(pF),。
10.2.4 管狀試樣測(cè)試結(jié)果計(jì)算
10.2.4.1 試樣電容量按式(14)計(jì)算:
Cx=C1-C2 (14)
式中:
C1——無(wú)試樣時(shí),,諧振電容量;
C2——有試樣時(shí),,諧振電容量,。
10.2.4.2試樣介電常數(shù)按式(15)式(16)計(jì)算:
式中:
L——電極長(zhǎng)度,單位為厘米(cm),;
D1,、D2——管外徑和內(nèi)徑,單位為厘米(cm),。
10.2.4.3 損耗角正切值的計(jì)算
與Q表接線柱直接連線時(shí)按式(17)計(jì)算:
當(dāng)高頻介質(zhì)損耗角測(cè)試儀與測(cè)微電極連接時(shí)按式計(jì)算:式中:
C1,、Q1——無(wú)試樣時(shí),諧振電容量及Q值,;
C2,、Q2——有試樣時(shí),諧振電容量及Q值,;
△Ci——有試樣時(shí)兩次衰減至諧振峰0.707時(shí),,微調(diào)電容變化量,單位為皮法(pF),;
△C0——無(wú)試樣時(shí)兩次衰減至諧振峰0.707時(shí),,微調(diào)電容變化量,單位為皮法(pF),。
注:不同試驗(yàn)環(huán)境對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響因素參見(jiàn)附錄B,。
10.3 試驗(yàn)結(jié)果以每組試驗(yàn)結(jié)果的中位數(shù)表示,取兩位有效數(shù)字,。
![](https://img80.chem17.com/d4728b83567c7315d7830669a7384dffead7f0aaf3ea0a5c3b0102d710a9a87fae728575044e7479.jpg)