介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀儀器技術(shù)指標(biāo)：

☆電感測量：

a．測量范圍：14.5nH~8.14H。

b．分    檔：分七個量程,。

      0.1～1μH,，    1～10μH，    10～100μH,，  

      0.1～lmH,，     1～10mH，     10～100mH,，   100 mH～1H,。

☆Q值測量：

a．Q值測量范圍：2～1023。              b．Q值量程分檔：30,、100、300,、1000,、自動換檔或手動換檔。

c．標(biāo)稱誤差

      頻率范圍：20kHz～10MHz,；       固有誤差：≤5％±滿度值的2％,；工作誤差：≤7％±滿度值的2％；

      頻率范圍：10MHz～60MHz,；      固有誤差：≤6％±滿度值的2％,；工作誤差：≤8％±滿度值的2％,。

☆振蕩頻率：

a．振蕩頻率范圍：10kHz～50MHz；

b．頻率分段（虛擬）10～99.9999kHz,、100～999.999kHz,、1～9.99999MHz、10～60MHz

c．頻率誤差：3×10-5±1個字,。

☆儀器正常工作條件

a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃,；            

b. 相對濕度：<80％；           

c. 電源：220V±22V,，50Hz±2.5Hz,。   

☆其他

a．消耗功率：約25W；            

b．凈重：約7kg,；          

c．外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280,。

☆電容測量：

a．測量范圍：1～460pF(460pF以上的電容測量見使用規(guī)則)；

b．電容量調(diào)節(jié)范圍

      主調(diào)電容器：30～500pF,；                準(zhǔn)  確  度：150pF以下±1.5pF,；150pF以上±1％；

      注：大于直接測量范圍的電容測量見使用規(guī)則

☆ Q合格指示預(yù)置功能

預(yù)置范圍：5～1000,。

☆主要配置：

a.測試主機一臺,；

b.電感9只；

c.夾具一 套

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀高分子材料的損耗

高分子聚合物電介質(zhì)按單體單元偶極矩的大小可分為極性和非極性兩類,。一般地,，偶極矩在0~0.5D（德拜）范圍內(nèi)的是非極性高聚物；偶極矩在0.5D以上的是極性高聚物,。非極性高聚物具有較低的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗,，其介電常數(shù)約為2，介質(zhì)損耗小于10-4,；極性高聚物則具有較高的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗,，并且極性愈大，這兩個值愈高,。

高聚物的交聯(lián)通常能阻礙極性基團的取向,，因此熱固性高聚物的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均隨交聯(lián)度的提高而下降。酚醛樹脂就是典型的例子,，雖然這種高聚物的極性很強,，但只要固化比較*，它的介質(zhì)損耗就不高,。相反,，支化使分子鏈間作用力減弱，分子鏈活動能力增強，介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均增大,。

高聚物的凝聚態(tài)結(jié)構(gòu)及力學(xué)狀態(tài)對介電性景響也很大,。結(jié)品能抑制鏈段上偶極矩的取向極化，因此高聚物的介質(zhì)損耗隨結(jié)晶度升高而下降,。當(dāng)高聚物結(jié)晶度大于70%時,，鏈段上的偶極的極化有時*被抑制，介電性能可降至 低值,，同樣的道理,，非晶態(tài)高聚物在玻璃態(tài)下比在高彈態(tài)下具有更低的介質(zhì)損耗。此外,，高聚物中的增塑利,、雜質(zhì)等對介電性能也有很大景響。

A/C高頻Q表能在較高的測試頻率條件下,，測量高頻電感或諧振回路的Q值,，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值,，電工材料的高頻介質(zhì)損耗,，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等,。該儀器廣泛地用于科研機關(guān),、學(xué)校、工廠等單位,。

滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GBT1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻,、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

各種電瓷,、裝置瓷,、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì),，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),，可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù),；儀器的基本原理是采用高頻諧振法,，并提供了，通用,、多用途,、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測試點自動設(shè)定,，諧振點自動搜索,，Q值量程自動轉(zhuǎn)換,，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進了調(diào)諧回路,，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至低,，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時更為方便,，測量值更為精確,。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值,，電感器的電感量和分布電容量,，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗,，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,，傳輸線的特性阻抗等。

使用方法

高頻Q表是多用途的阻抗測量儀器,，為了提高測量精度,，除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小，使耦合回路的頻響盡可能地好之外,，還要掌握正確的測試方法和殘余參數(shù)修正方法,。

1．測試注意事項

a．本儀器應(yīng)水平安放；

b．如果你需要較精確地測量,，請接通電源后,，預(yù)熱30分鐘；

c．調(diào)節(jié)主調(diào)電容或主調(diào)電容數(shù)碼開關(guān)時,，當(dāng)接近諧振點時請緩調(diào),；

d．被測件和測試電路接線柱間的接線應(yīng)盡量短，足夠粗,，并應(yīng)接觸良好,、可靠，以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來的測量誤差,；

e．被測件不要直接擱在面板頂部,，離頂部一公分以上，必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊,；

f．手不得靠近試件,，以免人體感應(yīng)影響造成測量誤差，有屏蔽的試件,，屏蔽罩應(yīng)連接在低電位端的接線柱,。

2．高頻線圈的Q值測量（基本測量法）

注意事項

a．本儀器應(yīng)水平安放；

b．如果你需要較精確地測量，請接通電源后,，預(yù)熱30分鐘,；

c．調(diào)節(jié)主調(diào)電容或主調(diào)電容數(shù)碼開關(guān)時，當(dāng)接近諧振點時請緩調(diào),；

d．被測件和測試電路接線柱間的接線應(yīng)盡量短,，足夠粗，并應(yīng)接觸良好,、可靠,，以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來的測量誤差；

e．被測件不要直接擱在面板頂部,，離頂部一公分以上,，必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊；

f．手不得靠近試件,，以免人體感應(yīng)影響造成測量誤差,，有屏蔽的試件，屏蔽罩應(yīng)連接在低電位端的接線柱,。

影響介電性能的因素

 下面分別討論頻率,、溫度、濕度和電氣強度對介電性能的影響,。

1頻率

 因為只有少數(shù)材料如石英玻璃,、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內(nèi)它們的 。r和  tans幾乎是恒定的,，且被用作工程電介質(zhì)材料,，然而一般的電介質(zhì)材料必須在所使用的頻率下測量其介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率。

 電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的變化是由于介質(zhì)極化和電導(dǎo)而產(chǎn)生,，重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導(dǎo)致的界面極化所引起的.

2溫度

 損耗指數(shù)在一個頻率下可以出現(xiàn)一個大值,，這個頻率值與電介質(zhì)材料的溫度有關(guān)。介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率的溫度系數(shù)可以是正的或負(fù)的,，這取決于在測量溫度下的介質(zhì)損耗指數(shù)大值位置,。

3濕度

 極化的程度隨水分的吸收量或電介質(zhì)材料表面水膜的形成而增加，其結(jié)果使電容率,、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電導(dǎo)率增大,。因此試驗前和試驗時對環(huán)境濕度進行控制是*的.

 注:濕度的顯著影響常常發(fā)生在 1MHz以下及微波頻率范圍內(nèi)

4電場強度

 存在界面極化時，自由離子的數(shù)目隨電場強度增大而增加,，其損耗指數(shù)大值的大小和位置也隨此而變,。

 在較高的頻率下，只要電介質(zhì)中不出現(xiàn)局部放電,，電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)與電場強度無關(guān),。