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薄膜塑料介電常數(shù)測試儀

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參考價 16000
訂貨量 1
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號 GDAT-A
  • 品牌 北廣精儀
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市
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更新時間:2024/07/13 19:11:05瀏覽次數(shù):1113

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價格區(qū)間 1萬-2萬 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,農(nóng)業(yè),文體,能源,建材
薄膜塑料介電常數(shù)測試儀在較高的頻率下,,只要電介質(zhì)中不出現(xiàn)局部放電,,電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)與電場強(qiáng)度無關(guān).

詳細(xì)介紹

薄膜塑料介電常數(shù)測試儀

定義單位體積的介質(zhì)損耗為介質(zhì)損耗率為

ω=σE2

在交變電場作用下,,電位移D與電場強(qiáng)度E均變?yōu)閺?fù)數(shù)矢量,,此時介電常數(shù)也變成復(fù)數(shù),其虛部就表示了電介質(zhì)中能量損耗的大小,。

D,,E,J之間的相位關(guān)系圖

D,,E,,J之間的相位關(guān)系圖

如圖所示,從電路觀點(diǎn)來看,,電介質(zhì)中的電流密度為

J=dD/dt=d(εE)/dt=Jτ+iJe

式中Jτ與E同相位,。稱為有功電流密度,導(dǎo)致能量損耗,;Je,,相比較E超前90°,稱為無功電流密度,。

定義

tanδ=Jτ/Je=ε〞/εˊ

式中,,δ稱為損耗角,tanδ稱為損耗角正切值,。

損耗角正切表示為獲得給定的存儲電荷要消耗的能量的大小,,是電介質(zhì)作為絕緣材料使用時的重要評價參數(shù)。為了減少介質(zhì)損耗,,希望材料具有較小的介電常數(shù)和更小的損耗角正切,。損耗因素的倒數(shù)Q=(tanδ)-1在高頻絕緣應(yīng)用條件下稱為電介質(zhì)的品質(zhì)因素,,希望它的值要高。

主要特點(diǎn):

空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測,。

印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低

技術(shù)參數(shù):

1.Q值測量

a.Q值測量范圍:2~1023。

b.Q值量程分檔:30,、100,、300、1000,、自動換檔或手動換檔,。

c.標(biāo)稱誤差

     頻率范圍(100kHz~10MHz): 頻率范圍(10MHz~160MHz):

     固有誤差:≤5%±滿度值的2% 固有誤差:≤6%±滿度值的2%

     工作誤差:≤7%±滿度值的2% 工作誤差:≤8%±滿度值的2%

2.電感測量范圍:4.5nH~7.9mH

3.電容測量:1~205

     主電容調(diào)節(jié)范圍:18~220pF

     準(zhǔn)確度:150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1%

     注:大于直接測量范圍的電容測量見后頁使用說明

4.  信號源頻率覆蓋范圍

     頻率范圍CH1:0.1~0.999999MHz, CH2: 1~9.99999MHz,

     CH3:10~99.9999MHz, CH1 :100~160MHz,

5.Q合格指示預(yù)置功能:      預(yù)置范圍:5~1000,。

6.B-測試儀正常工作條件

a.  環(huán)境溫度:0℃~+40℃,;

b.相對濕度:<80%;

c.電源:220V±22V,,50Hz±2.5Hz,。

7.其他

a.消耗功率:約25W;

b.凈重:約7kg,;

c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280,。

薄膜塑料介電常數(shù)測試儀電介質(zhì)的用途

 電介質(zhì)一般被用在兩個不同的方面:

 用作電氣回路元件的支撐,并且使元件對地絕緣及元件之間相互絕緣;

 用作電容器介質(zhì)

溫度

損耗指數(shù)在一個頻率下可以出現(xiàn)一個 大值,,這個頻率值與電介質(zhì)材料的溫度有關(guān),。介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率的溫度系數(shù)可以是正的或負(fù)的,這取決于在測量溫度下的介質(zhì)損耗指數(shù) 大值位置,。

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