介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀裝置試驗時的溫度和相對濕度以及試樣的溫度;

 施加的電壓;

 施加的頻率;

 相對電容率ε(平均值);

 介質(zhì)損耗因數(shù)  tans(平均值);

 試驗 日期  ;

 相對電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)值以及由它們計算得到的值如損耗指數(shù)和損耗角,，必要時,，應(yīng)給出與溫度和頻率的關(guān)系。

特點：  

◎  本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術(shù),，使測Q分辨率至0.1Q,，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎  能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試,。

◎  調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎  特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值,，測試頻率,，調(diào)諧狀態(tài)等,。

◎  Q值量程自動/手動量程控制。

◎  DPLL合成發(fā)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號,。獨立信號 源輸出口,，所以本機又是一臺合成信號源。

◎  測試裝置符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求,。

介質(zhì)損耗：絕緣材料在電場作用下,，由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng)，在其內(nèi)部引起的能量損耗,。也叫介質(zhì)損失,，簡稱介損。在交變電場作用下,，電介質(zhì)內(nèi)流過的電流相量和電壓相量之間的夾角（功率因數(shù)角Φ）的余角δ稱為介質(zhì)損耗角,。

損耗因子也指耗損正切，是交流電被轉(zhuǎn)化為熱能的介電損耗（耗散的能量）的量度,，一般情況下都期望耗損因子低些好

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀裝置概念：

電介質(zhì)在外電場作用下,，其內(nèi)部會有發(fā)熱現(xiàn)象，這說明有部分電能已轉(zhuǎn)化為熱能耗散掉,，電介質(zhì)在電場作用下,，在單位時間內(nèi)因發(fā)熱而消耗的能量稱為電介質(zhì)的損耗功率,，或簡稱介質(zhì)損耗（diclectric  loss）,。介質(zhì)損耗是應(yīng)用于交流電場中電介質(zhì)的重要品質(zhì)指標(biāo)之一。介質(zhì)損耗不但消耗了電能,，而且使元件發(fā)熱影響其正常工作,。如果介電損耗較大，甚至?xí)鸾橘|(zhì)的過熱而絕緣破壞,，所以從這種意義上講,，介質(zhì)損耗越小越好。

主要技術(shù)特性：

介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷,、裝置瓷,、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì),，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),，可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù),；儀器的基本原理是采用高頻諧振法,，并提供了，通用,、多用途,、多量程的阻抗測試,。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,，標(biāo)準(zhǔn)頻率測試點自動設(shè)定,，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉(zhuǎn)換,，數(shù)值顯示等新技術(shù),，改進了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至低,，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù),，使得新儀器在使用時更為方便。儀器能在較高的測試頻率條件下,，測量高頻電感或諧振回路的Q值,，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值,，電工材料的高頻介質(zhì)損耗,，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等,。

 VFD顯示 采用新穎的大屏幕VFD點陣顯示器,，在嚴(yán)冬和盛夏都能清晰顯示。全中文操作菜單,，操作提示各種警告信息,，直觀明了，不需查閱說明書即可操作,。

打印 儀器附有微型打印機,，以中文方式打印輸出測量結(jié)果及狀態(tài)。

RS232 儀器具有RS232接口,，與計算機連接便于數(shù)據(jù)的統(tǒng)計和處理及保存,。

可選購與計算機通信應(yīng)用程序。

電極系統(tǒng)

 1 加到試樣上的電極

 電極可選用 5.1.3中任意一種,。如果不用保護環(huán),。而且試樣上下的兩個電極難以對齊時，其中一個電極應(yīng)比另一個電極些,。已經(jīng)加有電極的試樣應(yīng)放置在兩個金屬電極之間,，這兩個金屬電極要比試樣上的電極稍小些。對于平板形和圓柱形這兩種不同電極結(jié)構(gòu)的電容計算公式以及邊緣電容近似計算的經(jīng)驗公式由表1給出.

 對于介質(zhì)損耗因數(shù)的測量,，這種類型的電極在高頻下不能滿足要求,，除非試樣的表面和金屬板都非常平整。圖 1所示的電極系統(tǒng)也要求試樣厚度均勻

2 試樣上不加電極

 表面電導(dǎo)率很低的試樣可以不加電極而將試樣插人電極系統(tǒng)中測量,，在這個電極系統(tǒng)中,，試樣的一側(cè)或兩側(cè)有一個充滿空氣或液體的間隙,。

 平板電極或圓柱形電極結(jié)構(gòu)的電容計算公式由表 3給出。

 下面兩種型式的電極裝置特別合適

2.1 空氣填充測微計電極

 當(dāng)試樣插人和不插人時,，電容都能調(diào)節(jié)到同一個值 ,，不需進行測量系統(tǒng)的電氣校正就能測定電容率。電極系統(tǒng)中可包括保護電極.

2.2 流體排出法

 在電容率近似等于試樣的電容率,，而介質(zhì)損耗因數(shù)可以忽略的一種液體內(nèi)進行測量,，這種測量與試樣厚度測量的精度關(guān)系不大。當(dāng)相繼采用兩種流體時,，試樣厚度和電極系統(tǒng)的尺寸可以從計算公式中消去

 試樣為與試驗池電極直徑相同的圓片,，或?qū)y微計電極來說，試樣可以比電極小到足以使邊緣效應(yīng)忽略不計 在測微計電極中,，為了忽略邊緣效應(yīng),，試樣直徑約比測微計電極直徑小兩倍的試樣厚度。