目錄:山東霍爾德電子科技有限公司>>材料分析儀器>>介電常數(shù)測試儀>> HD-JD1薄膜介質損耗儀 介電常數(shù)測試儀
產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 2萬-5萬 |
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應用領域 | 環(huán)保,化工,能源,綜合 |
介質損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物,,板材,,瓷器(陶器),云母,,玻璃,,塑料等物質的一項重要的物理性質。通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素,,為提高材料的性能提供依據(jù),。
薄膜介質損耗儀 介電常數(shù)測試儀是一種用于精確測量材料介電性能的專業(yè)儀器,主要應用于以下領域:
1.科研機構——用于新型電介質材料的性能分析與理論研究,,為材料科學領域的創(chuàng)新提供實驗依據(jù),;
2.高等院校——作為教學與科研的重要設備,支撐材料學、物理學,、電子工程等學科的實驗研究,;
3.工業(yè)企業(yè)——用于無機非金屬材料(如陶瓷,、玻璃、高分子復合材料等)的質量控制與性能優(yōu)化,指導產品開發(fā)與工藝改進。
該儀器在電子元器件,、絕緣材料、新能源器件等領域具有廣泛的應用價值,,為新型功能材料的研發(fā)與產業(yè)化提供關鍵測試手段,。
薄膜介質損耗儀 介電常數(shù)測試儀參考標準
u GB/T 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻,、音頻、高頻(包括米波波長存內)下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法,;
u GB/T 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法,;
u ASTM-D150-介電常數(shù)測試方法;
u GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數(shù)的測試方法,。
技術參數(shù)
1 | 信號源 | DDS數(shù)字合成 10KHZ-70MHz |
2 | 采樣精度 | 11BIT |
3 | 測量范圍 | 1-1000自動/手動量程 |
4 | 分辨率 | 0.1 |
5 | 測量工作誤差 | <5% |
6 | 電感測量范圍 | 分辨率0.1nH |
7 | 電感測量誤差 | <3% |
8 | 調諧電容 | 主電容30-540pF |
9 | 電容直接測量范圍 | 1pF~2.5uF |
10 | 調諧電容誤差 | ±1 pF或<1% 0.1pF |
11 | 諧振點搜索 | 自動掃描 |
12 | 合格預置范圍 | 5-1000聲光提示 |
13 | LCD顯示參數(shù) | F,L,,C,,Q,Lt,,Ct等 |
14 | 介質損耗系數(shù)精度 | 萬分之一 |
15 | 介電常數(shù)精度 | 千分之一 |
16 | 材料測試厚度 | 0.1mm-10mm |
17 | 技術 | 儀器自動扣除殘余電感和測試引線電感,。大幅提高測量精度。大電容值直接測量顯示,。數(shù)顯微測量裝置,,直接讀值。 |