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國產(chǎn)納米級白光干涉測厚儀

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產(chǎn)品型號LTS系列

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)代理商

產(chǎn)品資料查看pdf文檔

所  在  地無錫市

更新時間:2025-06-19 16:17:43瀏覽次數(shù):229次

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合
LTS系列白光干涉測厚儀基于白光干涉原理,,專為薄膜,、涂層厚度測量設(shè)計,具備納米級精度,、超快采樣速度及寬范圍適應(yīng)性,,適用于半導(dǎo)體、新能源,、光學(xué)薄膜等高duan制造領(lǐng)域,。國產(chǎn)納米級白光干涉測厚儀

LTS系列干涉測厚傳感器全面產(chǎn)品介紹

國產(chǎn)納米級白光干涉測厚儀

一、產(chǎn)品概述

  LTS系列白光干涉測厚儀基于白光干涉原理,,專為薄膜,、涂層厚度測量設(shè)計,具備納米級精度,、超快采樣速度及寬范圍適應(yīng)性,,適用于半導(dǎo)體、新能源,、光學(xué)薄膜等高duan制造領(lǐng)域,。

  

二、白光干涉測厚儀的核心優(yōu)勢(產(chǎn)品亮點)

  超高精度
  重復(fù)精度達 1nm,,線性誤差 ±20nm,,實現(xiàn)納米級厚度測量。
  非接觸式測量,避免接觸損傷樣品表面,。
  超快速度與寬范圍
  最高 10kHz 采樣頻率,,滿足高速動態(tài)測量需求。
  超大測厚范圍:常規(guī)型號厚度測量范圍 1μm~2500μm(折射率 1.5 時),,適配不同薄膜厚度場景,。
  環(huán)境適應(yīng)性強
  抗干擾能力強,不受電磁干擾影響,。
  寬范圍工作距離,,部分型號建議安裝距離 5-10mm,兼容復(fù)雜工況,。
  零發(fā)熱探頭設(shè)計:探頭內(nèi)部無電子元件,,避免發(fā)熱導(dǎo)致的夾具變形和光軸偏移,確保長期穩(wěn)定測量,。
  光源技術(shù)升級
  超高亮度彩色激光光源:通過藍光激發(fā)熒光體生成多色光,,較傳統(tǒng)白色 LED 光源,發(fā)光波段更廣,、亮度更穩(wěn)定,,提升干涉信號解析精度。國產(chǎn)納米級白光干涉測厚儀

  

三,、測量原理

  利用白光干涉現(xiàn)象:
  光源發(fā)射:白色點光譜經(jīng)干涉探頭照射到樣品表面,,薄膜上下表面反射光(反射光 1、反射光 2)產(chǎn)生相位差,,形成彩色干涉條紋,。
  信號解析:通過解析干涉條紋的相位差與光程差關(guān)系,計算薄膜厚度(厚度與相位差直接相關(guān)),。
  非接觸測量:無需接觸樣品,,通過光譜信號處理實時獲取厚度值。

  

四,、白光干涉測厚儀的技術(shù)參數(shù)與型號配置


型號LTS-100LTS-100WLTS-50LTS-50W
適配探頭LTP-T50(聚焦光點,,Φ100μm)LTP-T10-UV-VIS(彌散光斑,10mm 距離時 Φ4mm)LTP-T50LTP-T10-UV-VIS
參考距離50mm非聚焦探頭50mm非聚焦探頭
測量范圍±2mm(厚度:2μm~100μm,,折射率 1.5 時)建議安裝距離 5-10mm(厚度:1μm~50μm,,折射率 1.5 時)±2mm建議安裝距離 5-10mm
精度指標(biāo)重復(fù)精度 1nm,線性誤差 ±20nm重復(fù)精度 1nm,,線性誤差 ±20nm重復(fù)精度 1nm,,線性誤差 ±20nm重復(fù)精度 1nm,線性誤差 ±20nm
測量角度±3°±10°±3°±10°
采樣頻率最高 10kHz最高 10kHz最高 10kHz最高 10kHz
探頭規(guī)格Φ30×58mm,,90g,,IP40 防護Φ6.35×65mm,,輕量化設(shè)計Φ30×58mm,90g,,IP40 防護Φ6.35×65mm,,輕量化設(shè)計
接口Ethernet(100BASE-TX)、USB2.0,、RS-485(Modbus 協(xié)議)同左同左同左
電源24VDC±10%,,電流 0.4A同左同左同左
工作環(huán)境溫度 0~50℃,濕度 20~85% RH(無冷凝)同左同左同左

  



五,、典型應(yīng)用場景

  電子行業(yè):觸摸屏 ITO 膜厚測量,、UTG 超薄柔性玻璃厚度檢測。
  新能源:鋰電隔膜厚度在線監(jiān)測,、光伏薄膜均勻性檢測,。
  材料科學(xué):PET 多層膜材厚度分層測量、光學(xué)涂層厚度控制,。
  精密制造:半導(dǎo)體晶圓薄膜沉積厚度監(jiān)控、微納結(jié)構(gòu)表面形貌分析,。

  

六,、配套支持

  軟件與開發(fā):
  上位機軟件 TSConfocalStudio,支持實時數(shù)據(jù)顯示與分析,。
  提供 C++/C# 二次開發(fā)包,,便于集成至自動化產(chǎn)線。
  硬件適配:
  支持編碼器觸發(fā)與脈沖 / 電平觸發(fā)輸入,,兼容多種工業(yè)控制信號,。
  模擬信號輸出(±10V 電壓 / 4~20mA 電流)與數(shù)字信號輸出(警報、比較器),,滿足不同設(shè)備接口需求,。

  

七、白光干涉測厚儀的設(shè)計亮點

  緊湊輕量化:最小探頭直徑僅 6.35mm,,適合狹小空間安裝,。

  光纖設(shè)計:光纖接頭預(yù)留距離 100mm,靜態(tài) / 動態(tài)彎曲半徑分別為 30mm/60mm,,

                       提升布線靈活性,。

  長期穩(wěn)定性:無發(fā)熱探頭結(jié)構(gòu),避免溫度漂移影響,,確保高精度持續(xù)測量,。

  

總結(jié)

  LTS系列干涉測厚傳感器以納米級精度、超快響應(yīng)和高可靠性,,成為薄膜厚度測量的理想選擇,,廣泛應(yīng)用于高duan制造的質(zhì)量控制與工藝優(yōu)化,,助力客戶實現(xiàn)精密測量與生產(chǎn)效率提升。


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