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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 20萬(wàn)-50萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,能源,電子/電池,汽車及零部件 |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
非接觸式膜厚儀Eimos設(shè)備操作簡(jiǎn)單,，放置樣品即可測(cè)量的,。一步到位。
縮短檢查工程,，無(wú)標(biāo)準(zhǔn)曲線,，精度高,，分辨率高，輕松測(cè)量樣品的厚度,。
光學(xué)方式為大冢電子*,，不僅外形小巧，無(wú)論透明,、粗糙還是易變形的樣品,，都可以實(shí)現(xiàn)非接觸式的高精度測(cè)量。
非接觸式膜厚儀特點(diǎn)：
- 非接觸式測(cè)量不透明,、粗糙,，易變形的樣品
- 反復(fù)性，再現(xiàn)性高
- 無(wú)標(biāo)準(zhǔn)曲線也可知道厚度
- 測(cè)量徑很小,，不受斑點(diǎn)的影響
- 樣品位置無(wú)需調(diào)整,，放進(jìn)去即可。
- 穩(wěn)定性高,，不會(huì)產(chǎn)生誤差,，所以誰(shuí)都能操作。
- 光學(xué)方式原理所以安全
式樣
| AT-1500 | |
| 厚度范圍 | 10μm~1.5mm |
| 重復(fù)性 | 0.1μ(2σ)以下(測(cè)量1nm的guage black) |
| 樣品尺寸 | 小Φ10mm,，大100mm (測(cè)量位置在中間部) |
| 測(cè)量徑 | 約50μm |
| 測(cè)量時(shí)間 | 1秒以下 |
| 裝置尺寸·重量 | W300×D364×H400(mm)·20(kg) (本體部：開(kāi)發(fā)過(guò)程中可能發(fā)生變更) |
| 電源 | AC100-220V/200V |
構(gòu)成圖/原理
1)構(gòu)成圖
任何人都會(huì)使用大塚電子非接觸式光學(xué)膜厚儀 Eimos進(jìn)行測(cè)量
2)原理
將光分別照射樣品上下部
測(cè)量距離基準(zhǔn)面的距離,。
d=dall-(d1+d2)
比較測(cè)量方法
樣品例子和測(cè)量方法的比較
| 非接觸光學(xué)膜厚儀 | 接觸式膜厚儀 | X線式膜厚儀 | 変位計(jì) | ||
|---|---|---|---|---|---|
| 樣品 | 凝膠片 | ○ | × | ○ | ○ |
| 不織布 | ○ | × | ○ | × | |
| 金屬板 | ○ | ○ | ○ | ○ | |
| 樹(shù)脂 | ○ | ○ | ○ | ○ | |
| 多孔質(zhì) | ○ | △ | ○ | × | |
| 陶瓷 | ○ | ○ | ○ | × | |
| 紙?木 | ○ | ○ | ○ | × | |
| 測(cè)量 條 件 | 測(cè)量時(shí)間 | ○ 高速 | ○ | ○ | ○ |
| 非接觸測(cè)量 | ○ 非接觸 | × | ○ | ○ | |
| 前處理 | ○ 不要 | ○ | × | ○ | |
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