美國 IK-TECHNOLOGIES 多探針分析系統(tǒng)：UHV 

除了表面分析組件外，LK Technologies還專門設(shè)計和構(gòu)建完整的特高壓系統(tǒng),，這些系統(tǒng)通常結(jié)合了LK組件和其他制造商的多種表面分析方法,。

這些系統(tǒng)的常見元件是精密UHV室，主泵（通常是離子泵）,，輔助泵（通常是渦輪分子）,，精密樣品操縱器，安裝框架和真空計量,?？蛻敉ǔＲ蟮目蛇x組件是快速樣品引入系統(tǒng)（加載鎖定）和烘烤控制。

請聯(lián)系LK獲取更多信息,，并討論您的自定義系統(tǒng)要求,。多探針分析系統(tǒng)是全球?qū)嶒炇姨峁┑囊粋€例子：

美國 IK-TECHNOLOGIES 多探針分析系統(tǒng)多探針分析系統(tǒng),，包括XPS分析，X射線單色儀,，半球形分析儀,，AES，ISS,，多通道HREELS和帶有快速樣品加載系統(tǒng)的完整樣品制備室,。

探針分析儀：1.進行1微米內(nèi)B-U的各元素定量分析 2.20～20萬倍掃描圖像觀察 3.X射線能譜快速定量分析 4.陰極射線致發(fā)光分析應(yīng)用范圍： 用于對地質(zhì)、冶金,、有色,、玻璃、陶瓷,、新材料,、納米材料等機材料的分析?？山鉀Q地質(zhì),、冶金、有色,、材料,、機械等領(lǐng)域內(nèi)的許多科研、生產(chǎn)等重大實際問題,。

各種材料的成分,、結(jié)構(gòu)解析，包括金屬材料,、電子材料,、表面材料、超硬材料,、硅酸鹽材料,、化工材料、光學材料,、生物材料等,，如催化劑、焊料,、紅外窗口、金剛石膜,、電子開關(guān)材料,、光導纖維等的解析。 特種金屬及其制品的分析鑒定與純度分析,，超細材料,、納米材料,、磁粉的粒度測定。鍍層材料的成分與厚度的測定,，各類寶玉石的分析與質(zhì)量評估,，金、銀,、鉑貴金屬制品的分析與鑒別,，各類非金屬礦產(chǎn)品的質(zhì)量評估，生物,、醫(yī)學,、農(nóng)業(yè)中的無機材料和有機材料中的無機鹽分析等。