PLC內(nèi)部集成了CPU,,存儲(chǔ)器,,I/O電路,,通訊電路,開(kāi)關(guān)電源等,,是各部分協(xié)調(diào)工作,,因此,單就PLC硬體上的維修,,具有一定的學(xué)問(wèn),。PLC型號(hào)眾多,但內(nèi)部大同小異,,原理基本一樣,。今天我就以西門(mén)子S7-200PLC為例,談?wù)凱LC硬件維修的一些思路和方法,,不但對(duì)工控初級(jí)維修有指導(dǎo)性的幫助,此文也對(duì)PLC初學(xué)者更好的理解PLC這門(mén)理論,,有積極的幫助。
控制功能:線性v/f控制,平方v/f控制,,可編程多點(diǎn)設(shè)定v/f控制;磁通電流控制(FCC),,可以改善動(dòng)態(tài)響應(yīng)特性,;新的IGBT技術(shù),數(shù)字微處理器控制,;數(shù)字量輸入3個(gè),,模擬量輸入1個(gè),模擬量輸出1個(gè),,繼電器輸出1個(gè),;集成RS485通訊接口,可選PROFIBUS-DP通訊模塊/Device-Net模板,;,。
保護(hù)功能:過(guò)載能力為150%額定負(fù)載電流,持續(xù)時(shí)間60秒,;過(guò)電壓,、欠電壓保護(hù);變頻器過(guò)溫保護(hù),;接地故障保護(hù),,短路保護(hù);I2t電動(dòng)機(jī)過(guò)熱保護(hù),;采用PTC通過(guò)數(shù)字端接入的電機(jī)過(guò)熱保護(hù),;采用PIN編號(hào)實(shí)現(xiàn)參數(shù)連鎖;閉鎖電機(jī)保護(hù),,防止失速保護(hù),。

西門(mén)子6SE7031-2TF60直流調(diào)速器 內(nèi)部阻抗
相對(duì)較大的電源內(nèi)阻對(duì)負(fù)載來(lái)講有兩點(diǎn)不利,首先是不利于負(fù)載穩(wěn)壓電路作業(yè),,更為不利的是負(fù)載電流的任何改變都會(huì)導(dǎo)致直流電源輸出的起伏,,這種起伏對(duì)測(cè)驗(yàn)成果的影響同脈沖與噪聲對(duì)測(cè)驗(yàn)成果形成的影響*相同。

電動(dòng)控制:指控制系統(tǒng)的輸出是通過(guò)電氣量或電子信號(hào)來(lái)進(jìn)行的,,所控制的對(duì)象是電動(dòng)執(zhí)行元件,比如繼電器,、步進(jìn)開(kāi)關(guān)、電磁閥,、伺服驅(qū)動(dòng)器和變頻器等等,,絕大部分的自動(dòng)控制多多少少都會(huì)有電動(dòng)控制元件。
大部分變頻器都有通信接口(大多是RS485接口)可以使用PLC的RS485(RS232是需要加轉(zhuǎn)換器)與變頻器RS485接口通過(guò)通信方式控制啟動(dòng),、停止,、正轉(zhuǎn)、反轉(zhuǎn)、調(diào)速還可以通過(guò)這種方式修改變頻器的參數(shù),。

西門(mén)子6SE7031-2TF60直流調(diào)速器 安穩(wěn)度
當(dāng)線電壓或負(fù)載電流改變肘,,直流電源的輸出電壓也會(huì)有所起伏。穩(wěn)壓程度由穩(wěn)壓電路的參數(shù)決定,,參數(shù)是指濾波電容的容量和能量開(kāi)釋的速率,。
假如給電源供電的一個(gè)相對(duì)恒定的電源,那么只需根本的負(fù)載穩(wěn)壓,。安穩(wěn)度的巨細(xì)一般界說(shuō)為空載或滿(mǎn)載時(shí)輸出電壓的百分比,,或電壓的改變值。,。
12,、為什么高速計(jì)數(shù)器不能正常工作?在程序中要使用初次掃描存儲(chǔ)器位SM0.1來(lái)調(diào)用HDEF指令,而且只能調(diào)用一次,。如果用SM0.0調(diào)用或者第二次執(zhí)行HDEF指令會(huì)引起運(yùn)行錯(cuò)誤,,而且不能改變次執(zhí)行HDEF指令時(shí)對(duì)計(jì)數(shù)器的設(shè)定13、高速計(jì)數(shù)器如何尋址?為什么從SMDx中讀不出當(dāng)前的計(jì)數(shù)值,。

testo89紅外熱成像儀因其高熱靈敏度,、高分辨率、德圖的濕度成像功能,,順利完成檢測(cè)任務(wù),。解決方案德圖專(zhuān)家來(lái)到洞窟后,對(duì)現(xiàn)場(chǎng)評(píng)估,。洞內(nèi)的石像在古代依山開(kāi)鑿而成,,歷經(jīng)朝代更迭,石像表面進(jìn)行了泥塑彩繪并以這樣的姿態(tài)流傳現(xiàn)今,。此次,,針對(duì)此類(lèi)石窟石像,有三個(gè)檢測(cè)目標(biāo):發(fā)現(xiàn)裂紋檢測(cè)佛像表面的泥塑裂紋,,使得文物修復(fù)專(zhuān)家盡早發(fā)現(xiàn)并著手修復(fù),。當(dāng)泥塑的裂紋擴(kuò)大到肉眼可見(jiàn)甚至開(kāi)始脫落時(shí),石像的修復(fù)難度就越大,。佛像均有十幾米高,,近距離檢查佛像本體十分不便。