環(huán)境真空掃描電鏡（Environmental Scanning Electron Microscope, ESEM）是一種高級顯微鏡技術(shù)，結(jié)合了掃描電子顯微鏡（SEM）與環(huán)境控制技術(shù)的特點(diǎn),。與傳統(tǒng)的掃描電鏡相比，環(huán)境真空掃描電鏡具有更多的功能和靈活性,，特別是在處理非導(dǎo)電,、非導(dǎo)熱或含水樣品時(shí)。
主要體現(xiàn)在以下方面：
1,、環(huán)境控制：與傳統(tǒng)的SEM需要在高真空環(huán)境下工作不同,，ESEM可以在低真空或環(huán)境壓力下工作。這使得研究者能夠觀察那些在傳統(tǒng)SEM中難以觀察的樣品,，如生物樣品,、含水的地質(zhì)樣品或容易氧化的材料,。
2、減少樣品制備：由于環(huán)境掃描電鏡能夠在低真空下工作，因此可以減少或省略許多傳統(tǒng)的樣品制備步驟,，如脫水,、干燥、噴金等,。這不僅簡化了樣品制備過程,，還保留了樣品的原始狀態(tài),。
3,、動(dòng)態(tài)觀察：ESEM允許在更自然的條件下觀察樣品，甚至可以觀察一些動(dòng)態(tài)過程,，如生物樣品的生理活動(dòng),、化學(xué)反應(yīng)的進(jìn)行等。
4,、高分辨率成像：盡管在低真空或環(huán)境壓力下工作,，但ESEM仍然能夠提供高分辨率的圖像，幫助科學(xué)家更好地理解樣品的微觀結(jié)構(gòu)和形態(tài),。
5、多功能性：除了常規(guī)的形貌觀察外,，ESEM還可以與其他技術(shù)（如X射線能譜儀）結(jié)合,，進(jìn)行微區(qū)成分分析。
在應(yīng)用方面,，
環(huán)境真空掃描電鏡廣泛用于多個(gè)領(lǐng)域,，如金屬,、陶瓷、礦物,、水泥,、半導(dǎo)體等材料的顯微形貌觀察與分析，各種材料微區(qū)化學(xué)成分的定量檢測,，以及生物,、醫(yī)學(xué)和農(nóng)業(yè)等領(lǐng)域的科學(xué)研究,。
金屬及合金、斷口,、焊點(diǎn),、拋光斷面、磁性及超導(dǎo)材料
陶瓷、復(fù)合材料,、塑料
薄膜/涂層
地質(zhì)樣品斷面、礦物
軟材料：聚合物,、藥物,、濾膜,、凝膠、生物組織,、植物材料
顆粒,、多孔材料、纖維
水合/脫水/濕潤/接觸角分析
結(jié)晶/相變
氧化/催化
材料生成
拉伸（伴隨加熱或冷卻）
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