鎢燈絲掃描電鏡成像平臺即時可用,。彩色圖像讓成分分布更直觀，實時定量能譜分析讓科研更高效,，低電壓及電子束減速模式配合經(jīng)典的CBS探頭(同軸環(huán)狀背散射探頭)使不導(dǎo)電樣品也可以在不鍍金條件下呈現(xiàn)*的成像性能,。低真空則可以在不鍍膜的情況下對不導(dǎo)電樣品進行更真實的能譜元素分析。專為快速分析而設(shè)計,，智能型掃描電鏡,，讓新手用戶也可以輕松操縱。
鎢燈絲掃描電鏡將微區(qū)成分分析與電鏡成像集成在同一平臺上,，快速提供所需微觀形貌及實時成分信息,，幫助學術(shù)和工業(yè)用戶快速獲得全面、可靠的數(shù)據(jù),，準確執(zhí)行故障分析和缺陷檢測,。通用型SEM系統(tǒng),，可涵蓋多種類型樣品?？煞治鼋^緣材料,、處理大而重的樣品，同時能夠分析常規(guī)的小尺寸樣品,。靈活性SEM系統(tǒng),，支持各類功能附件。使用便捷,，不依賴于用戶操作水平,、能夠便捷提供元素或化學信息。高度自動化,，自動對中技術(shù)確保系統(tǒng)始終處于最佳工作狀態(tài),，用戶指南及撤銷功能幫助用戶更輕松操作系統(tǒng)。處理效率高,，實時定量成分分析成像,，更快獲得定量分析數(shù)據(jù)。
鎢燈絲掃描電鏡可以完成實時成分信息,，同步掃描獲取多種信號時執(zhí)行能譜分析,，實時檢測形貌與元素信息；成像平臺即時可用,，只需關(guān)注數(shù)據(jù)采集,，不必憂慮電鏡條件設(shè)置；更快獲得數(shù)據(jù),，多種成像和掃描策略,，優(yōu)化圖像采集效果并提升系統(tǒng)處理能力；靈活的樣品臺設(shè)計,，全開門式設(shè)計,，大樣品可輕松加載到樣品倉內(nèi)，*的成像性能,，提供低真空模式和電子束減速模式用于消除荷電效應(yīng),。
6
立即詢價
您提交后,，專屬客服將第一時間為您服務(wù)