場發(fā)射掃描電鏡搭載*的實時元素成像功能和先進的自動光學系統(tǒng),，實現灰色區(qū)域解析,，讓您不再憂心顯微鏡性能，更加專注于研究本身,。掃描電鏡具有多功能性和高質量成像性能,，采用了創(chuàng)新性的末級透鏡設計，引入靜電式末級透鏡,，支持鏡筒內高分辨率檢測,，即使是針對磁性樣品也可實現成像及分析性能。在原有性能基礎之上,，進一步優(yōu)化了超高分辨成像能力,，并且增設許多新功能提升其易用性。
場發(fā)射掃描電鏡在耐用的SEM平臺上引入了智能對中技術,，不再需要用戶手動進行調整操作,，而且，FLASH自動執(zhí)行精細調節(jié)工作,，只需移動鼠標幾次,，就可以完成必要的透鏡居中、消像散和聚焦矯正,。此外,，掃描電鏡的工作距離不再意味著低分辨成像，系統(tǒng)還可升級實時元素譜/圖成像功能,，*改變了幾十年來傳統(tǒng)SEM-EDS固有的元素分析流程,，將元素分析效率提升。任何用戶都可以輕松地得到的分析效果,。
場發(fā)射掃描電鏡的性能特點：
1.全面解析：全面的納米和亞納米分辨率性能,，適用于納米顆粒、粉末,、催化劑,、納米器件、大塊磁性樣品等材料,；
2.靈活性：非常靈活的處理范圍廣泛的樣品類型,，包括絕緣體,，敏感材料，或磁性樣品,，并收集對您的應用重要的數據,；
3.SmartAlign技術：使用SmartAlign技術(智能調整光學系統(tǒng))，實現光學系統(tǒng)自動調整,，減少維護時間,；
4.先進的自動化：先進的自動化包括FLASH自動圖像微調、撤銷,、用戶向導,、Maps成像拼接的FLASH技術；
5.實時定量EDS：元素信息觸手可及,，利用ColorSEM技術,，提供實時元素面分布成像定量分析，結果獲取更加快速,、簡便,；
6.標準工作流操作：內置了用戶工作流功能，無論是初學者還是經驗豐富,，都能夠快速上手,，并穩(wěn)定獲取實驗數據。
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