產(chǎn)品概述

高標(biāo)準(zhǔn)回路電阻測試儀現(xiàn)貨直發(fā)200A回路電阻測試儀發(fā)揮自身技術(shù)優(yōu)勢,，精心研制的高精度、數(shù)字化開關(guān)檢測儀器,。該儀器采用高頻大功率恒流開關(guān)電源技術(shù),，可測得微歐姆級接觸電阻,。目前,，電力系統(tǒng)中普遍采用常規(guī)的雙臂直流電橋測量接觸電阻，而這類電橋的測試電流僅m*,，難以發(fā)現(xiàn)回路導(dǎo)體截面積減少的缺陷,。在測量高壓開關(guān)導(dǎo)電回路接觸電阻時,，由于受觸頭之間油膜和氧化層的影響，測量值偏大若干倍,，無法真實的反映接觸電阻值,。為此，新電力部標(biāo)準(zhǔn)DL/T845.4—2004《電阻測量裝置通用技術(shù)條件：回路電阻測試儀》和新版檢定規(guī)程JJG1052-2009《回路電阻測試儀,、直阻儀檢定規(guī)程》作出對測量（隔離）開關(guān)、斷路器等接觸電阻的測量電流不小于直流100A,，小電流維持時間不低于60S的規(guī)定，確保試驗結(jié)果準(zhǔn)確,。
 產(chǎn)品特點

高標(biāo)準(zhǔn)回路電阻測試儀現(xiàn)貨直發(fā)覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高,、低溫電熱膜;隔熱,、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布,、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽,、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié),、濺射,、涂覆,、涂布層,，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層,、外延層,、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓,、太陽能電池,、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等）,，金屬膜,，導(dǎo)電漆膜,，蒸發(fā)鋁膜,，PCB銅箔膜,，

EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物,，導(dǎo)電性塑料,，導(dǎo)電性橡膠,，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜,，

抗靜電材料,， EMI 防護(hù)材料,，導(dǎo)電性纖維,，導(dǎo)電性陶瓷等,，

產(chǎn)品參數(shù)

硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）.

GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》.

GB/T 1551-1995《硅,、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》.

GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.