平板探測(cè)器（DR板）的工作原理及平板探測(cè)器的維修

（一）碘化銫/非晶硅型：

概括原理：X線(xiàn)先經(jīng)熒光介質(zhì)材料轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光，再由光敏元件將可見(jiàn)光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào),，后將模擬電信號(hào)經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào),。

具體原理：

1,、曝光前，先使硅表面存儲(chǔ)陽(yáng)離子而產(chǎn)生均一電荷,，導(dǎo)致在硅表面產(chǎn)生電子場(chǎng),；
2、曝光期間，在硅內(nèi)產(chǎn)生電子-空穴對(duì),，且自由電子游離到表面,，導(dǎo)致在硅表面產(chǎn)生潛在的電荷影像，在每一點(diǎn)上電荷密度與局部X線(xiàn)強(qiáng)度相當(dāng),。
3,、曝光后，X線(xiàn)圖像被儲(chǔ)存在每一個(gè)像素中,；
4,、半導(dǎo)體轉(zhuǎn)換器讀出每一個(gè)素，完成模數(shù)轉(zhuǎn)換,。

優(yōu)點(diǎn)：

1、轉(zhuǎn)換效率高,；
2,、動(dòng)態(tài)范圍廣；
3,、空間分辨率高,；
4、在低分辨率區(qū)X線(xiàn)吸收率高（原因是其原子序數(shù)高于非晶硒）,；
5,、環(huán)境適應(yīng)性強(qiáng)。

缺點(diǎn)：

1,、高劑量時(shí)DQE不如非晶硒型,；
2、因有熒光轉(zhuǎn)換層故存在輕微散射效應(yīng),；
3,、銳利度相對(duì)略低于非晶硒型。

（二）非晶硒型

概括原理：光導(dǎo)半導(dǎo)體直接將接收的X線(xiàn)光子轉(zhuǎn)換成電荷,，再由薄膜晶體管陣列將電信號(hào)讀出并數(shù)字化,。

具體原理：

1、X 線(xiàn)入射光子在非晶硒層激發(fā)出電子-空穴對(duì),；
2,、電子和空穴在外加電場(chǎng)的作用下做反向運(yùn)動(dòng)，產(chǎn)生電流,，電流的大小與入射的X線(xiàn)光子數(shù)量成正比,；
3、這些電流信號(hào)被存儲(chǔ)在TFT的極間電容上,，每一個(gè)TFT和電容就形成一個(gè)像素單元,。

優(yōu)點(diǎn)：

1、轉(zhuǎn)換效率高；
2,、動(dòng)態(tài)范圍廣,；
3、空間分辨率高,；
4,、銳利度好；

缺點(diǎn)：

1,、對(duì)X線(xiàn)吸收率低,，在低劑量條件下圖像質(zhì)量不能很好的保證，而加大X線(xiàn)劑量,，不但加大病源射線(xiàn)吸收,，且對(duì)X光系統(tǒng)要求過(guò)高。
2,、硒層對(duì)溫度敏感,，使用條件受限，環(huán)境適應(yīng)性差,。

（三）CCD型

概括原理：由增感屏作為X線(xiàn)的交互介質(zhì),，加CCD來(lái)數(shù)字化X 線(xiàn)圖像。

具體原理：以MOS電容器型為例：是在P型Si的表面生成一層SiO2,，再在上面蒸鍍一層多晶硅作為電極,，給電極P型Si 襯底加一電壓，在電極下面就形成了一個(gè)低勢(shì)能區(qū),，即勢(shì)阱,。勢(shì)阱的深淺與電壓有關(guān)。電壓越高勢(shì)阱越深,。而光生成電子就儲(chǔ)于勢(shì)阱之中,。光生電子多少與光強(qiáng)成正比。所以所存儲(chǔ)的電荷量也就反應(yīng)了該點(diǎn)的亮度,。上百萬(wàn)的光敏單元所存儲(chǔ)的電荷就形成與圖像對(duì)應(yīng)的電荷圖像。

優(yōu)點(diǎn)：

1,、空間分辨率高,；
2、幾何失真??；
3、均勻一致性好,。

缺點(diǎn)：

1,、轉(zhuǎn)換效率低（原因是CCD系統(tǒng)采用增感屏為其X線(xiàn)交互介質(zhì),，它的MTF調(diào)制傳遞函數(shù)和DQE量子檢測(cè)效能都不會(huì)超過(guò)增感屏。另外,，由于增感屏被X線(xiàn)激發(fā)的熒光通常只有小于1%能夠通過(guò)鏡頭進(jìn)入CCD）,。
2、生產(chǎn)工藝難：CCD面積難以做大,，需多片才能獲得足夠的尺寸,，這便帶來(lái)了拼接的問(wèn)題，導(dǎo)致系統(tǒng)復(fù)雜度升高可靠性降低,，且接縫兩面有影像偏差,。
3、像素大小由CCD的小體積決定,，而CCD體積制造工藝受限,。

通過(guò)此文-平板探測(cè)器（DR板）的工作原理及優(yōu)缺點(diǎn)，我們可以了解到數(shù)字平板探測(cè)器未來(lái)到發(fā)展方向機(jī)應(yīng)用領(lǐng)域,。

XRD 0822-萬(wàn)睿視XRD 0822平板探測(cè)器

XRpad2 3025-萬(wàn)睿視平板探測(cè)器XRpad2 4336/3025

XRD 1611-萬(wàn)睿視平板探測(cè)器XRD 1611 xP

4343CT-萬(wàn)睿視平板探測(cè)器XRD 4343CT

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1313DXT-萬(wàn)睿視平板探測(cè)器1313DXT

4343HE-萬(wàn)睿視平板探測(cè)器4343HE

CCD技術(shù)的這些固有缺陷，使其已經(jīng)不能代表DR系統(tǒng)的主流發(fā)展方向,，逐步淘汰中,。萬(wàn)睿視VAREX平板探測(cè)器代表著數(shù)字射線(xiàn)無(wú)損檢測(cè)的發(fā)展方向,！

同時(shí)萬(wàn)睿視中國(guó)在江蘇無(wú)錫設(shè)立工廠及維修車(chē)間,，方便國(guó)內(nèi)客戶(hù)的售后服務(wù)！