在半導(dǎo)體和集成電路工藝中,，材料、晶圓,、芯片的測試是不可少的環(huán)節(jié),。數(shù)字源表SMU具備源測功能，可以產(chǎn)生電流-電壓(I-V)特性曲線,，是半導(dǎo)體材料,、器件電性能表征測量的核心。在測試時,，通過數(shù)字源表提供激勵并對測量信號進(jìn)行采集,，首先將電流或電壓輸入被測器件（DUT），測量該器件對此輸入信號的響應(yīng),；這些信號的路徑為：源表的輸出端接入電纜,，電纜和探針連接,，電流或電壓信號通過探針至芯片。

普賽斯數(shù)字源表集電壓源,、電流源,、電壓表、電流表,、電子負(fù)載功能于一體,，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量,、3500V高壓下納安級測量,、1000A脈沖大電流輸出，全系列產(chǎn)品豐富,，新推出更高精度,、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表,，準(zhǔn)確度提升至±0.03%,，直流電流升級至3A，可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn),、穩(wěn)定的測試方案,；晶圓/芯片微弱電流測試VI源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表

產(chǎn)品特點(diǎn)
5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作           

內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件,，加速用戶完成測試,，如LIV、PIV

源及測量的準(zhǔn)確度為0.03%

四象限工作（源和肼）,，源及測量范圍：高至300V,，低至3pA

豐富的掃描模式，支持線性掃描,、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描

支持USB存儲,，一鍵導(dǎo)出測試報告

支持多種通訊方式，RS-232,、GPIB及以太網(wǎng)

技術(shù)參數(shù)

源限度-電壓源：±10V（≤3A量程）,，±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）,；

源限度-電流源：±3A（≤10V量程）,，±1A（≤30V量程），±100mA（≤300V量程）,；

過量程： 105%量程,，源和測量；

穩(wěn)定負(fù)載電容：<22nF,；

寬帶噪聲(20MHz)：2mV RMS（典型值）,，<20mV Vp-p（典型值）,；

線纜保護(hù)電壓：輸出阻抗30KΩ，輸出電壓偏移<80mV,；

蕞大采樣速率：S系列1000 S/s,，SXXB系列32000S/s;

觸發(fā)：支持IO觸發(fā)輸入及輸出，觸發(fā)極性可配置,；

輸出接口：前后面板香蕉頭插座輸出,，同一時刻只能用前或者后面板接口；

通信口：RS-232,、GPIB,、以太網(wǎng)；

電源：AC 100~240V 50/60Hz,；

工作環(huán)境：25±10℃,；

尺寸：106mm高 × 255mm寬 ×425mm長；

重量：5KG

質(zhì)保期：1年

S系列源表應(yīng)用

分立器件特性測試：電阻,、二極管,、發(fā)光二極管,、齊納二極管,、PIN二極管、BJT三極管,、MOSFET,、SiC、GaN等器件,；
能量與效率特性測試：LED/AMOLED,、太陽能、電池,、DC/DC轉(zhuǎn)換器,；
傳感器特性測試：電阻率、霍爾效應(yīng)等,；
有機(jī)材料特性測試：電子墨水,、印刷電子技術(shù)等；
納米材料特性測試：石墨烯,、納米線等,；
激光器特性測試：窄脈沖LIV測試系統(tǒng)；
功率器件：靜態(tài)測試系統(tǒng),；
電流傳感器：動靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),；

普賽斯S系列數(shù)字源表標(biāo)準(zhǔn)的SCPI指令集，Y秀的性價比,，良好的售后服務(wù)與技術(shù)支持,，集電壓源,、電流源、電壓表,、電流表,、電子負(fù)載功能于一體，支持四象限工作,，晶圓/芯片微弱電流測試VI源表就找普賽斯儀表