IGBT簡介：

IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀,IGBT(絕緣柵雙極性晶體管)是常見的功率器件,，期間經(jīng)常使用在強電流高電壓的場景中，如電動汽車,、變電站等,。器件結(jié)構(gòu)由MOSFET及BGT組合而成，兼具了高輸入阻抗及低導(dǎo)通壓降的優(yōu)點，IGBT是電力電子設(shè)備的“cpu”,，被國家列為重點研究對象,。

IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀,IGBT測試難點：

1、由于IGBT是多端口器件,，所以需要多個測量模塊協(xié)同測試,。

2、IGBT的漏電流越小越好,，所以需要高精度的設(shè)備進行測試,。

3、IGBT動態(tài)電流范圍大,，測試時需要量程范圍廣,，且量程可以自動切換的模塊進行測試。

4,、由于IGBT工作在強電流下,，自加熱效應(yīng)明顯，脈沖測試可以減少自加熱效應(yīng),，所以MOSFET需要進行脈沖IV測試,，用于評估期間的自加熱特性。

5,、MOSFET的電容曲線是其特性表征的重要內(nèi)容,，且與其在高頻應(yīng)用有密切關(guān)系。所以IGBT的電容測試非常重要,。

6,、IGBT開關(guān)特性非常重要，需要進行雙脈沖動態(tài)參數(shù)的測試,。

那么IGBT器件靜態(tài)參數(shù)測試需要哪些儀器呢,？

E系列高電壓源測單元具有輸出及測量電壓高（3000V）、能輸出及測量微弱電流信號（1nA）的特點,。設(shè)備工作在第一象限,，輸出及測量電壓0~3000V，輸出及測量電流0~100mA,。支持恒壓恒流工作模式,，同時支持豐富的I-V掃描模式。

用于IGBT擊穿電壓測試,IGBT動態(tài)測試母線電容充電電源,、IGBT老化電源,防雷二極管耐壓測試,壓敏電阻耐壓測試等場合,。其恒流模式對于快速測量擊穿點具有重大意義。

 E300高壓源測單元

HCPL100型高電流脈沖電源為脈沖恒流源,，具有輸出電流大（1000A）,、脈沖邊沿陡（10uS）,、支持兩路脈沖電壓測量（峰值采樣）、支持輸出極性切換等特點,。

設(shè)備可應(yīng)用于肖特基二極管,、整流橋堆、IGBT器件,、IGBT半橋模塊,、IPM模塊等需要高電流的測試場合，使用該設(shè)備可以獨立完成“電流-導(dǎo)通電壓”掃描測試,。

HCPL100高電流脈沖電源 

P系列脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度,、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表,，匯集電壓,、電流輸入輸出及測量等多種功能，Z大脈沖輸出電流達10A,，Z大輸出電壓達300V,，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測試中,。P系列源表適用于各行各業(yè)使用者,，特別適合現(xiàn)代半導(dǎo)體、納米器件和材料,、有機半導(dǎo)體,、印刷電子技術(shù)以及其他小尺寸、低功率器件特性分析,。

P300脈沖源表

總之，IGBT模組靜態(tài)參數(shù)測試需要的儀器是一系列的,，具體可以找生產(chǎn)廠家普賽斯儀表為您提供檢測方案哦,！