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低阻雙電阻四探針測(cè)試儀

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) ZB-361
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 長(zhǎng)沙市
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更新時(shí)間:2020-01-07 14:12:55瀏覽次數(shù):486

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產(chǎn)地類別 進(jìn)口 類型 數(shù)字式電阻測(cè)試儀
應(yīng)用領(lǐng)域 電子,交通,冶金,航天,汽車
ZB-361低阻雙電阻四探針測(cè)試儀可以測(cè)試到1uΩ方阻值, 恒流輸出,、液晶顯示,、自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量、雙電組合測(cè)試方法,,提供中文或英文語(yǔ)言版本,。可以用于抗靜電材料,, EMI 防護(hù)材料,,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等測(cè)試,。

詳細(xì)介紹

低阻雙電阻四探針測(cè)試儀功能概述:

1.  可以測(cè)試到1uΩ方阻值

2.  恒流輸出

3.  液晶顯示

4.  自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量

5.  雙電組合測(cè)試方法.

6.  提供中文或英文語(yǔ)言版本.

7.  PC軟件運(yùn)行.

 

低阻雙電阻四探針測(cè)試儀適用范圍:

1.覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,,高、低溫電熱膜;隔熱,、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布,、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽,、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié),、濺射,、涂覆、涂布層,,電阻式,、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試

2.硅晶塊,、晶片電阻率及擴(kuò)散層,、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜,、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓,、太陽(yáng)能電池、電子元器件,,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),,金屬膜,導(dǎo)電漆膜,,蒸發(fā)鋁膜,,PCB銅箔膜,

3.EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導(dǎo)電性油漆,,導(dǎo)電性糊狀物,,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,,導(dǎo)電性薄膜,,金屬薄膜,

4.抗靜電材料,, EMI 防護(hù)材料,,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等

 

應(yīng)用說(shuō)明:

四探針?lè)y(cè)試的 導(dǎo)電性新材料,、鋁箔,、銅箔等具有類似性質(zhì)要求測(cè)量的材料.

 

技術(shù)參數(shù):

規(guī)格型號(hào)specification model

ZB-361A

ZB-361B

1.方塊電阻范圍sheet resistance

10-6~2×102Ω/□

10-6~2×105Ω/□

2.電阻率范圍resistivity

10-7~2×103Ω-cm

10-7~2×106Ω-cm

3.測(cè)試電流范圍test current

1A、100mA,、10mA,、1mA、100uA,、10uA,、1uA、0.1uA

4.電流精度current accuracy

±0.1%

5.電阻精度resistance accuracy

≤0.3%

6.顯示讀數(shù)display

液晶顯示:電阻,、電阻率,、方阻,、溫度,、單位換算、溫度系數(shù),、電流,、電壓,、探針形狀、探針間距、厚度 ,、電導(dǎo)率LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity

7.測(cè)試方式test mode

組合雙電測(cè)試方法combined double electric test method

8.工作電源working power

輸入: AC 220V±10%.50Hz功 耗:<30W

9.誤差errors

≤4%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果)(standard samples)

10.選購(gòu)功能choose to buy

選購(gòu)1.pc軟件,; 選購(gòu)2.方形探頭; 選購(gòu)3.直線形探頭,; 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái),;5.標(biāo)準(zhǔn)電阻1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform

11.測(cè)試探頭test probe

探針間距選購(gòu): 2mm;3mm兩種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu):碳化鎢針,、鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm,;2mm;3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles.

 

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