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蘇州科準測控有限公司
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專業(yè)教程:基于AEC-Q101的鍵合線拉力與焊點剪切測試方法詳解

時間:2025/6/16閱讀:111
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在半導(dǎo)體器件可靠性驗證領(lǐng)域,AEC-Q101標準是汽車電子委員會(Automotive Electronics Council)針對分立半導(dǎo)體器件制定的重要認證標準,。

鍵合線拉力和鍵合點剪切測試是評估器件可靠性的關(guān)鍵指標,直接影響器件在嚴苛汽車環(huán)境下的長期穩(wěn)定性。本文科準測控小編將深入解析這兩項測試的技術(shù)要求,、測試原理及操作流程,,幫助工程師更好地理解和執(zhí)行相關(guān)測試。

 

一,、測試原理

1. 鍵合線拉力測試原理

鍵合線拉力測試是通過在鍵合線上施加垂直于芯片表面的拉力,,測量鍵合線與焊盤或引線框架之間連接的機械強度。測試時,,使用精密鉤針在鍵合線中間位置施加拉力,,直至鍵合線斷裂或鍵合點脫落,記錄最大破壞力值,。

該測試主要評估:

鍵合線與焊盤的冶金結(jié)合質(zhì)量

鍵合線的機械強度

鍵合工藝的穩(wěn)定性

2. 鍵合點剪切測試原理

鍵合點剪切測試是通過在鍵合點側(cè)面施加平行于芯片表面的推力,,測量鍵合點與芯片焊盤或引線框架之間的結(jié)合強度。測試時,,使用特定寬度的剪切工具以恒定速度推動鍵合點,,直至鍵合點脫落,記錄最大剪切力值,。

該測試主要評估:

鍵合點與基材的粘附強度

鍵合界面的冶金質(zhì)量

鍵合工藝參數(shù)設(shè)置的合理性

 

二,、測試標準

1. 鍵合線拉力測試標準

依據(jù)標準:MIL-STD-750-方法2037

關(guān)鍵要求:

測試速度:0.2-2.0 mm/s

鉤針直徑:25-75 μm(通常為50 μm

鉤針位置:鍵合線拱高的1/3

最小拉力要求:根據(jù)線徑不同而不同,如25μm金線通常要求≥3gf

2. 鍵合點剪切測試標準

依據(jù)標準:AEC-Q101-003

關(guān)鍵要求:

測試速度:50-500 μm/s

剪切工具寬度:≥2倍鍵合點直徑

剪切高度:1-5 μm(通常為基材表面上方1-2 μm

最小剪切力要求:根據(jù)鍵合點尺寸和材料而定

 

三,、測試儀器

1,、Alpha W260推拉力測試機

image.png 

A、設(shè)備介紹

Alpha-W260自動推拉力測試機用于為微電子引線鍵合后引線焊接強度測試,、焊點與基板表面粘接力測試及其失效分析領(lǐng)域的專用動態(tài)測試儀器,,常見的測試有晶片推力、金球推力,、金線拉力等,,采用高速力值采集系統(tǒng)。根據(jù)測試需要更換相對應(yīng)的測試模組,系統(tǒng)自動識別模組,,并自由切換量程,。

B、推刀或鉤針

image.png 

C,、常用工裝夾具

image.png 

 

四,、測試流程

1、鍵合線拉力測試流程

步驟1,、樣品準備

確認樣品符合測試要求(封裝完成,、無可見損傷)

將樣品固定在測試臺,確保水平穩(wěn)定

根據(jù)線徑選擇合適的鉤針(通常50μm

步驟2,、設(shè)備設(shè)置

打開Alpha W260測試軟件,,選擇"拉力測試"模式

設(shè)置測試參數(shù):

測試速度:1.0 mm/s

最大行程:500 μm

觸發(fā)力:0.1gf

校準力傳感器和位置系統(tǒng)

步驟3,、定位操作

使用顯微鏡找到待測鍵合線

移動鉤針至鍵合線拱高的1/3

確保鉤針與鍵合線垂直,無側(cè)向接觸

步驟4,、執(zhí)行測試

啟動自動測試程序

系統(tǒng)自動完成:

鉤針接觸鍵合線并施加預(yù)緊力

垂直向上拉動至鍵合線斷裂或鍵合點脫落

記錄最大拉力和位移曲線

步驟5,、結(jié)果分析

A、檢查斷裂模式(線斷裂,、界面脫落或根部斷裂)

B,、記錄拉力值并與標準比較

C、統(tǒng)計至少25個有效數(shù)據(jù)點

D,、報告生成

軟件自動生成包含以下內(nèi)容的報告:

a,、測試條件

b、每個測試點的拉力值

c,、統(tǒng)計結(jié)果(平均值,、標準差,、最小值)

d,、失效模式分布

2、鍵合點剪切測試流程

步驟1,、樣品準備

確認樣品表面清潔無污染

將樣品固定在測試臺,,確保水平

根據(jù)鍵合點尺寸選擇合適的剪切工具(通常為鍵合點直徑的2.5倍)

步驟2、設(shè)備設(shè)置

選擇"剪切測試"模式

設(shè)置測試參數(shù):

測試速度:100 μm/s

剪切高度:基材表面上方1.5 μm

最大行程:鍵合點直徑的1.5

進行力傳感器校準

步驟3,、定位操作

使用顯微鏡找到待測鍵合點

調(diào)整剪切工具與鍵合點邊緣平行

確保剪切工具與基材表面的距離精確為1.5 μm

步驟4,、執(zhí)行測試

啟動自動測試程序

A、系統(tǒng)自動完成:

剪切工具以恒定速度推動鍵合點

持續(xù)監(jiān)測剪切力變化

記錄最大剪切力和位移曲線

檢測到力值下降80%后自動停止

B,、結(jié)果分析

檢查失效模式(界面剝離或基材損傷)

記錄剪切力值并與標準比較

統(tǒng)計至少25個有效數(shù)據(jù)點

檢查剪切后鍵合點殘留情況

C,、報告生成

軟件自動生成包含以下內(nèi)容的報告:

測試條件

每個鍵合點的剪切力值

統(tǒng)計結(jié)果(平均值、標準差,、最小值)

失效模式分析

剪切后的顯微圖像

 

五,、注意事項

1、環(huán)境控制

測試環(huán)境溫度:23±5

相對濕度:40-60% RH

防震工作臺減少振動干擾

2,、樣品處理

避免直接用手接觸測試區(qū)域

測試前進行適當?shù)臉悠非鍧崳ㄈ绲入x子清洗)

確保樣品固定牢固無松動

3,、設(shè)備維護

定期校準力傳感器和位移系統(tǒng)

保持測試工具清潔無污染

定期檢查光學系統(tǒng)清晰度

4、數(shù)據(jù)有效性

排除明顯異常數(shù)據(jù)(如工具誤操作導(dǎo)致)

確保失效模式符合預(yù)期

測試數(shù)量應(yīng)滿足統(tǒng)計要求(通?!?span style="font-size: 14px; font-family: Calibri;">25

5,、安全操作

注意顯微鏡下的精細操作,避免碰撞

設(shè)置合理的力值上限,,防止設(shè)備過載

緊急情況下使用快速停止功能

 

六,、常見問題及解決方案

1、拉力測試中鉤針滑脫

可能原因:鉤針直徑過大或位置不當

解決方案:更換合適鉤針,,確保鉤在拱高1/3

2,、剪切測試數(shù)據(jù)波動大

可能原因:剪切高度不一致或工具磨損

解決方案:重新校準剪切高度,更換剪切工具

3、測試結(jié)果低于標準

可能原因:鍵合工藝參數(shù)不當或材料問題

解決方案:檢查鍵合機參數(shù)(功率,、壓力,、時間等),驗證材料兼容性

4,、失效模式異常

如出現(xiàn)基材損傷而非界面剝離

解決方案:調(diào)整剪切高度,,檢查基材強度是否達標

5、設(shè)備讀數(shù)不穩(wěn)定

可能原因:傳感器故障或環(huán)境振動

解決方案:重新校準傳感器,,檢查設(shè)備防震措施

 

以上就是小編介紹的有關(guān)于AEC-Q101鍵合線拉力和鍵合點剪切測試相關(guān)內(nèi)容了,,希望可以給大家?guī)韼椭∪绻€想了解更多BGA封裝料件焊點的可靠性測試方法,、視頻和操作步驟,,推拉力測試機怎么使用視頻和圖解,使用步驟及注意事項,、作業(yè)指導(dǎo)書,,原理、怎么校準和使用方法視頻,,推拉力測試儀操作規(guī)范,、使用方法和測試視頻 ,焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題,,歡迎您關(guān)注我們,,也可以給我們私信和留言,【科準測控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻,、晶圓,、硅晶片、IC半導(dǎo)體,、BGA元件焊點,、ALMP封裝、微電子封裝,、LED封裝,、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問題及解決方案。

 


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