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在現(xiàn)代半導體封裝工藝中,,引線鍵合技術(shù)作為芯片與外部電路連接的關(guān)鍵環(huán)節(jié),其質(zhì)量直接影響著電子器件的可靠性和性能,。隨著封裝技術(shù)向高密度,、小型化方向發(fā)展,銅線鍵合因其優(yōu)異的導電性,、熱傳導性和成本優(yōu)勢,,正逐步取代傳統(tǒng)的金線鍵合。然而,,銅線鍵合工藝參數(shù)的優(yōu)化仍面臨諸多挑戰(zhàn),,特別是第二焊點(二焊點)的鍵合強度控制尤為關(guān)鍵。
本文科準測控小編將采用Alpha W260推拉力測試機,,結(jié)合正交試驗設(shè)計方法,,系統(tǒng)分析了影響銅線二焊點鍵合強度的關(guān)鍵參數(shù),為工藝優(yōu)化提供科學依據(jù),。通過極差分析,、方差分析和回歸建模,我們建立了工藝參數(shù)與鍵合強度的定量關(guān)系,,最終驗證了優(yōu)化工藝方案的可靠性,,為實際生產(chǎn)提供了重要參考。
一,、測試原理
引線鍵合是通過金屬導線(金,、銅、銀等)將芯片上的焊盤與引線框架管腳連接的技術(shù),。超聲熱壓鍵合結(jié)合了熱壓和超聲兩種能量形式,,其原理主要包括:
超聲軟化效應:高頻超聲波(通常60-120kHz)使金屬晶格產(chǎn)生微觀振動,降低屈服強度,,促進塑性變形,。
摩擦焊接機制:劈刀與金屬線,、基板間的相對運動產(chǎn)生摩擦熱,促進金屬間擴散,。
壓力輔助鍵合:靜態(tài)壓力確保接觸面緊密貼合,,促進原子擴散。
二焊點形成過程涉及復雜的物理化學變化,,其強度受多種參數(shù)交互影響,,包括:
超聲功率(USG):影響能量輸入和軟化程度
壓力(Force):決定接觸緊密性
研磨參數(shù)(Scrub cycle/Amplitude/Frequency):控制界面摩擦狀態(tài)
二、測試相關(guān)標準
JEDEC JESD22-B116:引線鍵合剪切測試標準
MIL-STD-883 Method 2011.7:鍵合強度測試方法
SEMI G32-94:銅線鍵合工藝指南
IPC/JEDEC-9704:銅線鍵合可靠性評估
三,、測試設(shè)備
1,、Alpha W260推拉力測試機
A、設(shè)備介紹
Alpha W260推拉力測試機是一款專為半導體封裝,、電子組裝等領(lǐng)域設(shè)計的高精度測試設(shè)備,。其主要特點包括:
高精度測量:配備24Bit超高分辨率數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),確保測試數(shù)據(jù)的高精度和高重復性,。
多功能性:支持多種測試模式,,包括晶片推力、金球推力,、金線拉力等,,適用于不同封裝形式的測試需求。
自動化操作:X,、Y軸自動工作臺設(shè)計,,操作簡便,測試效率高,。
安全性:每個工位設(shè)有獨立安全高度和限速,,防止誤操作損壞測試針頭。
這些特點使得Alpha W260成為COB封裝推拉力測試的理想選擇,。
2,、鉤針
3、測試標準要求
拉力測試速度:5mm/s
測試角度:30°±5°
失效模式判定:第一焊點頸部斷裂為有效數(shù)據(jù)
數(shù)據(jù)采集:每組至少15個有效樣本
四,、實驗流程
步驟一,、樣品制備
基板準備:采用鍍銀銅框架(銀層厚度2-5μm),乙醇超聲清洗5分鐘,,氮氣吹干
芯片貼裝:使用環(huán)氧樹脂膠將芯片粘接在框架上,,150℃固化1小時
工藝參數(shù)設(shè)置:根據(jù)正交表L27(3^5)設(shè)置27組參數(shù)組合(表1)
步驟二、鍵合工藝
第一焊點形成:
打火燒球:EFO電流30mA,,時間0.3ms
鍵合參數(shù):固定USG=50,,Force=40gf,Time=15ms
線弧成型:弧高100μm,,跨度1.5mm
第二焊點鍵合:按正交表參數(shù)執(zhí)行,,每組重復15根線
步驟三、拉力測試
1,、設(shè)備校準:使用標準砝碼校準Alpha W260測試機
2,、測試設(shè)置:
鉤針位置:距二焊點50μm
測試速度:5mm/s
測試角度:30°
3、數(shù)據(jù)采集:
記錄最大拉力值
觀察失效模式(僅保留第一焊點頸部斷裂數(shù)據(jù))
每組剔除異常值后取15個有效數(shù)據(jù)平均值
步驟四,、數(shù)據(jù)分析
極差分析:計算各因素K值和極差R
方差分析:評估因素顯著性(P<0.1)
交互作用分析:構(gòu)建二元表分析顯著交互項
回歸建模:建立拉力與參數(shù)的線性模型
步驟五,、驗證實驗
按優(yōu)化方案A1B1C1D2E2進行鍵合
重復測試3組,每組15個樣本
對比優(yōu)化前后拉力值
五,、注意事項
環(huán)境控制:溫度23±1℃,,濕度45±5%RH
設(shè)備預熱:測試機預熱30分鐘以上
鉤針選擇:使用1mil(25μm)鎢鋼鉤針
數(shù)據(jù)有效性:失效模式不符合要求的數(shù)據(jù)應剔除
參數(shù)交互:注意顯著交互項的實際影響
以上就是小編介紹的有關(guān)于銅線鍵合二焊點參數(shù)優(yōu)化相關(guān)內(nèi)容了,希望可以給大家?guī)韼椭?!如果您還想了解更多關(guān)于銅線鍵合二焊點測試方法,、標準和視頻,推拉力測試機怎么使用視頻和圖解,,使用步驟及注意事項,、作業(yè)指導書,原理,、怎么校準和使用方法視頻,,推拉力測試儀操作規(guī)范、使用方法和測試視頻 ,,焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題,,歡迎您關(guān)注我們,也可以給我們私信和留言,,【科準測控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻,、晶圓、硅晶片,、IC半導體,、BGA元件焊點、ALMP封裝,、微電子封裝,、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應用中可能遇到的問題及解決方案,。
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