在現(xiàn)代微電子封裝領(lǐng)域，引線鍵合技術(shù)作為連接芯片與外部電路的關(guān)鍵工藝,，其可靠性直接決定著電子器件的整體性能和使用壽命,。科準測控小編團隊長期關(guān)注微電子封裝測試技術(shù)發(fā)展,，發(fā)現(xiàn)引線鍵合強度是評估封裝可靠性的核心指標之一,。隨著電子產(chǎn)品向小型化、高密度化方向發(fā)展,，對鍵合強度的精確測量提出了更高要求,。本文科準測控小編基于GJB548C-2021標準，系統(tǒng)介紹引線鍵合強度測試的原理,、標準要求,、測試設(shè)備及完整操作流程，重點分析Beta S100推拉力測試機在該領(lǐng)域的應(yīng)用優(yōu)勢,，為電子封裝行業(yè)的可靠性測試提供系統(tǒng)性的技術(shù)參考。

一,、測試原理

引線鍵合強度測試基于機械應(yīng)力加載原理,，通過施加精確控制的拉力或推力，測量鍵合點分離時的臨界力值,。根據(jù)GJB548C-2021標準,，測試過程中施加的應(yīng)力方向需與鍵合界面形成特定角度（通常為90°），以模擬實際使用中可能承受的機械應(yīng)力,。測試系統(tǒng)實時監(jiān)測并記錄力值變化,，當鍵合點發(fā)生失效時，系統(tǒng)自動捕捉峰值力值作為鍵合強度指標,，同時記錄失效模式（如引線斷裂,、鍵合界面剝離或金屬間化合物斷裂等）。

測試過程中需要考慮引線直徑、鍵合工藝（熱壓焊,、超聲焊等）,、鍵合材料等多重因素對測試結(jié)果的影響。對于不同封裝結(jié)構(gòu)（如常規(guī)引線鍵合,、梁式引線或倒裝片等）,，需采用相應(yīng)的測試條件和方法，確保測試結(jié)果能真實反映鍵合界面的機械強度,。

二,、測試標準要求

GJB548C-2021標準（第195-202頁）對引線鍵合強度測試提出了系統(tǒng)規(guī)范，主要內(nèi)容包括：

設(shè)備精度要求：測試設(shè)備測量準確度應(yīng)達到±5%或±3×10?3N（取較大值）,，測量范圍至少為規(guī)定應(yīng)力最小極限值的兩倍,。

1、抽樣要求

常規(guī)引線鍵合（條件A,、C,、D）需從至少4個器件中隨機抽取樣本

梁式引線鍵合（條件G、H）需測試至少4個芯片或全部芯片（當總芯片數(shù)不足4個時）

混合/多芯片器件同樣需測試至少4個芯片

2,、測試條件分類

條件A（鍵合拉脫）：適用于器件外部鍵合測試

條件C（單鍵合點拉力）：適用于芯片/基板與引線框架的內(nèi)部鍵合

條件D（雙鍵合點拉力）：適用于兩端鍵合的引線測試

條件G（梁式引線推開試驗）：用于工藝控制

條件H（梁式引線拉脫試驗）：適用于陶瓷基板上的梁式引線測試

失效判定標準：需同時記錄失效力值和失效模式,，表1提供了不同引線直徑對應(yīng)的最小鍵合強度要求。

三,、測試儀器介紹

1,、Beta S100推拉力測試機

設(shè)備介紹：Beta S100自動推拉力測試機用于為微電子引線鍵合后引線焊接強度測試、焊點與基板表面粘接力測試及其失效分析領(lǐng)域的專用動態(tài)測試儀器,，常見的測試有晶片推力,、金球推力、金線拉力等,，采用高速力值采集系統(tǒng),。根據(jù)測試需要更換相對應(yīng)的測試模組,系統(tǒng)自動識別模組，并自由切換量程,。產(chǎn)品軟件操作簡單方便,，適用于半導(dǎo)體IC封裝測試、LED 封裝測試,、光電子器件封裝測試,、PCBA電子組裝測試、汽車電子,、航空航天,、軍工等等。亦可用于各種電子分析及研究單位失效分析領(lǐng)域以及各類院校教學(xué)和研究,。

Beta S100推拉力測試機是符合GJB548C-2021標準要求的專業(yè)測試設(shè)備,，具有以下技術(shù)特點：

2、產(chǎn)品特點

3、專用夾具系統(tǒng)

提供多種規(guī)格的測試鉤,、夾持器和推刀工具

針對梁式引線測試的特殊設(shè)計

快速更換設(shè)計,，適應(yīng)不同封裝類型的測試需求

四、測試流程

步驟一,、測試前準備

1,、樣品確認

核對樣品型號、批次信息

確認鍵合工藝類型（球焊,、楔形焊等）

測量并記錄引線直徑（用于確定最小強度要求）

2,、設(shè)備校準

按照設(shè)備操作手冊進行力傳感器校準

驗證位移測量系統(tǒng)的準確性

檢查光學(xué)系統(tǒng)的對焦和放大倍率

3、測試參數(shù)設(shè)置

根據(jù)標準要求選擇測試條件（A,、C,、D等）

設(shè)置測試速度（通常為0.254mm/min）

設(shè)定測試終止條件（力值下降百分比或最大位移）

步驟二、測試操作步驟

以試驗條件C（單鍵合點拉力）為例：

1,、樣品固定：

將器件牢固固定于測試平臺

使用顯微鏡精確定位待測鍵合點

2,、引線處理

用精密剪刀切斷引線另一端

確保留有足夠長度（通常≥1mm）用于夾持

3,、夾具安裝

選擇合適的微型夾持器或測試鉤

小心夾持引線自由端,，避免預(yù)加應(yīng)力

4、測試執(zhí)行

確認拉力方向垂直于芯片表面

啟動測試程序,，以恒定速率施加拉力

實時觀察鍵合點狀態(tài)和力值變化

5,、數(shù)據(jù)記錄

系統(tǒng)自動記錄最大力值（鍵合強度）

通過顯微鏡觀察并記錄失效模式

保存力-位移曲線和相關(guān)圖像

試驗條件G（梁式引線推開試驗）特殊要求：

使用專用推刀，直徑需大于芯片但小于鍵合區(qū)

推開速度控制在0.254mm/min以內(nèi)

確保推開過程中不與梁式引線接觸

步驟三,、測試后處理

1,、數(shù)據(jù)分析

計算樣本的平均鍵合強度和標準差

對比標準中表1的最小強度要求

統(tǒng)計分析不同失效模式的分布比例

2、結(jié)果判定

所有測試值均應(yīng)大于標準規(guī)定的最小值

特定失效模式（如界面剝離）比例不應(yīng)超過規(guī)定限值

如出現(xiàn)異常值,，需追加測試樣本

3,、報告生成

包含測試條件、設(shè)備信息,、環(huán)境參數(shù)

詳細記錄每個測試點的力值和失效模式

附上代表性測試曲線和失效部位圖像

步驟四,、注意事項

1、樣品處理

避免測試前對樣品施加機械應(yīng)力

對于有密封材料的器件,，應(yīng)在封裝前測試

梁式引線測試樣品需特別保護鍵合區(qū)

2、測試操作

確保拉力方向準確,，避免角度偏差

控制測試速度恒定,，避免沖擊加載

對于細小引線（<25μm），需特別小心夾持

3,、設(shè)備維護

定期校準力傳感器和位移系統(tǒng)

保持光學(xué)系統(tǒng)清潔

妥善保存專用夾具,，防止變形或損壞

4、安全防護

佩戴防靜電手環(huán)操作

使用顯微鏡時注意眼睛保護

小心處理斷裂的引線，防止飛濺

以上就是小編介紹的有關(guān)引線鍵合強度測試相關(guān)內(nèi)容了,，希望可以給大家?guī)韼椭?！如果您還想了解更多關(guān)于鍵合絲拉力測試、金絲鍵合拉力標準,、鍵合拉力測試儀和金絲鍵合拉力標準,，推拉力測試機怎么使用視頻和圖解，使用步驟及注意事項,、作業(yè)指導(dǎo)書,，原理、怎么校準和使用方法視頻,，推拉力測試儀操作規(guī)范,、使用方法和測試視頻 ，焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題,，歡迎您關(guān)注我們,，也可以給我們私信和留言，【科準測控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻,、晶圓,、硅晶片、IC半導(dǎo)體,、BGA元件焊點,、ALMP封裝、微電子封裝,、LED封裝,、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問題及解決方案。