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在現(xiàn)代電子制造和jun工芯片封裝領(lǐng)域,焊柱的牢固性是確保芯片可靠性與穩(wěn)定性的關(guān)鍵因素,。焊柱作為芯片與外部連接的橋梁,,其強(qiáng)度直接影響到芯片在及端環(huán)境下的性能表現(xiàn)。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步,,對(duì)焊柱牢固性的要求也越來越高,。GJB548C-2021標(biāo)準(zhǔn)明確規(guī)定了焊柱陣列封裝的破壞性引線拉力測(cè)試方法,以驗(yàn)證焊柱在軸向拉力下的承受能力,。
破壞性引線拉力測(cè)試是評(píng)估焊柱強(qiáng)度的重要手段,,通過施加拉力直至焊柱分離,,可以直觀地觀察焊柱的失效模式,并驗(yàn)證其是否符合設(shè)計(jì)要求,。這一測(cè)試方法不僅適用于jun工芯片封裝,,
在本文中,科準(zhǔn)測(cè)控小編將詳細(xì)解讀焊柱陣列封裝的破壞性引線拉力測(cè)試流程,,并結(jié)合Alpha W260推拉力測(cè)試儀的應(yīng)用,,為您提供全面的測(cè)試解決方案。
一,、檢測(cè)原理
焊柱陣列封裝的破壞性引線拉力測(cè)試旨在驗(yàn)證焊柱在實(shí)際使用中的強(qiáng)度和可靠性,。其原理是通過高精度推拉力測(cè)試儀(如Alpha W260)對(duì)焊柱施加逐漸增加的軸向拉力,直至焊柱從封裝上分離或達(dá)到可接收的最小拉力強(qiáng)度,。測(cè)試過程中,,設(shè)備精確記錄拉力值和位移變化,通過分析拉力強(qiáng)度(單位面積的拉力值)和失效模式(如焊柱斷裂,、焊盤分離等),,全面評(píng)估焊柱的質(zhì)量和可靠性,確保其在及端條件下的穩(wěn)定性,。
二,、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
參考標(biāo)準(zhǔn)GJB548C-2021微電子器件試驗(yàn)方法和程序進(jìn)行測(cè)試
三、檢測(cè)設(shè)備
1,、Alpha W260自動(dòng)推拉力測(cè)試儀
A,、設(shè)備介紹:
Alpha-W260自動(dòng)推拉力測(cè)試儀用于為微電子引線鍵合后引線焊接強(qiáng)度測(cè)試、焊點(diǎn)與基板表面粘接力測(cè)試及其失效分析領(lǐng)域的專用動(dòng)態(tài)測(cè)試儀器,,常見的測(cè)試有晶片推力,、金球推力、金線拉力等,,采用高速力值采集系統(tǒng),。根據(jù)測(cè)試需要更換相對(duì)應(yīng)的測(cè)試模組,系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別模組,并自由切換量程,。產(chǎn)品軟件操作簡(jiǎn)單方便,,適用于半導(dǎo)體IC封裝測(cè)試、LED 封裝測(cè)試,、光電子器件封裝測(cè)試,、PCBA電子組裝測(cè)試、汽車電子,、航空航天,、jun工等等。亦可用于各種電子分析及研究單位失效分析領(lǐng)域以及各類院校教學(xué)和研究。
B,、產(chǎn)品特點(diǎn)
2,、鉤針
3、常用工裝夾具
四,、測(cè)試流程
步驟一,、設(shè)備準(zhǔn)備
檢查Alpha W260推拉力測(cè)試儀是否校準(zhǔn),并確保設(shè)備處于良好工作狀態(tài),。
安裝專用的測(cè)試鉤針,,確保鉤針能夠穩(wěn)定勾住焊柱。
步驟二,、樣品固定
將待測(cè)樣品固定在測(cè)試臺(tái)上,,確保焊柱位置穩(wěn)定。
步驟三,、參數(shù)設(shè)置
在設(shè)備軟件中設(shè)置測(cè)試參數(shù),,包括牽引速率(不超過2.54cm/min)和拉力施加點(diǎn)(盡可能接近焊柱末端,距離不超過柱長(zhǎng)的一半),。
步驟四,、測(cè)試過程
啟動(dòng)測(cè)試,設(shè)備以無沖擊的方式施加軸向拉力,,直至焊柱達(dá)到可接收的最小拉力強(qiáng)度或從封裝上分離,。
實(shí)時(shí)觀察焊柱的失效模式,并記錄分離位置,。
步驟五,、結(jié)果分析
根據(jù)焊柱的徑向截面積計(jì)算拉力強(qiáng)度,確保其達(dá)到27.6N/mm2的zui低要求,。
記錄失效模式,,包括焊柱本體部位的失效、焊盤和焊柱接合點(diǎn)處的失效,,以及焊盤從殼體上分離,。
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